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如何提高回路电阻测试仪的处理能力

阅读:116      发布时间:2021-5-6
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CPU全速运行的时候,由表1可知。比在空闲或者休眠时消耗的功率大得多。省电的原则就是让正常运行模式远比空闲、休眠模式少占用时间回路电阻测试仪。类似PDA 设备中,系统在全速运行时远比空闲的时候少,所以,可以通过设置,使CPU尽可能工作在空闲状态,使用时再通过相应的中断唤醒CPU以恢复到正常工作模式来处理响应的事件,然后再进入空闲模式。因此,设计系统时,如果处理能力许可回路电阻测试仪电路分析,可尽量降低处理器的时钟频率。
    研发工作大大提高了FPGA 速度和面积效率,自从 Xilinx推出 FPGA 二十多年来。缩小了FPGA 与 ASIC之间的差距,使 FPGA 成为实现数字电路的优选平台。今天,功耗日益成为 FPGA 供应商及其客户关注的问题。降低 FPGA 功耗是缩减封装和散热成本、提高器件可靠性以及打开移动电子设备等新兴市场之门的关键。Xilinx提供低功耗 FPGA 解决方案方面*。本文说明如何应用计算机辅助设计 CA D技术,如 Xilinx?ISE?9.2i软件中采纳的技术,来有效降低功耗。
    符合以下公式:CMOS电路中的功耗由静态(漏电)功耗和动态功耗两部分组成。动态功耗是由电路信号上的跃迁所致。
    Ci表示信号 i电容;fi称为“开关活动率”表示信号 i上的跃迁速率;V电源电压。其中。
    主要是亚阈值漏电流和栅极氧化层漏电流回路电阻测试仪。截止 MOS晶体管属不*绝缘体,静态功耗是电路在静止、空闲状态下的功耗。静态功耗是由截止晶体管中的漏电流引起。允许其漏极与源极之间有亚阀值漏电流。栅极氧化层漏电流是由通过晶体管栅极流向其管体、漏极和源极的隧道电流所致。
    致使导线长度缩短、电容量减小以及总体动态功耗降低。较小的工艺几何尺寸还意味着较短的晶体管沟道和较薄的栅极氧化层,工艺尺寸缩小(如近期采纳 65纳米工艺的趋势)意味着更低的电源电压和更小的晶体管尺寸。致使静态功耗随着工艺尺寸缩小而增加。
    每条边线表示一个可编程布线开关。布线器必须在源引脚和目标引脚之间选择一条路径。图中各节点内部所示为该节点的原始成本和电容成本。若要尽量降低原始成本,该布线图中的每个节点表示一个布线导体或逻辑块引脚。源引脚和目标引脚之间的布线就应采纳蓝色路径。然而,功耗监控型流程中,布线器会使用绿色路径,因为这条路径的总体电容较低。
    功耗监控型布局与布线的结果
    从而增加了内置的自动输入矢量生成功能回路电阻测试仪的运行状态。这样,使用传统布局布线流程和上述功耗型流程两种方法对一组工业设计进行了布局布线。这些设计的初始输入附加一个基于线性反馈移位寄存器 LFSR-base伪随机矢量生成器。无需大量使用外部波形就能完成动态功耗的板级测量。
    动态功耗降低率对于 Spartan-3FPGA 达 14%对于 Virtex-4FPGA 达 11%对于 Virtex-5FPGA 达 12%就所有设计平均而言,把这些工业设计映射到Spartan-3Virtex-4和 Virtex-5器件中。结果显示。动态功耗降低率对于 Spartan-3FPGA 为 12%对于 Virtex-4FPGA 为 5%对于 Virtex-5FPGA 为 7%就所有系列平均而言,速度性能下降在3%和 4%之间,认为这样小的性能损失在注重功耗的设计中是可以接受的考虑到这些仅仅是软件修改的初始结果,认为所取得的功耗效益是令人振奋的要降低微处理器内核的Pcore功耗,就必须想法降低处理器的工作电压和时钟频率回路电阻测试仪,其中降低微处理器的工作电压是很有效的途径,也是未来发展的趋势,目前许多的嵌入式微处理器的工作电压可降至2V以下。并且率的处理器都提供有多种时钟频率和工作电压的选择,以便于zui大限度地节约功耗。此外,进行系统设计时,工作电压相差不大和系统处理能力许可的情况下,还应尽可能降低微处理器的时钟频率,现以起到节能的作用。以SA MSUNGS3C241032位ARM920T内核)为例,就提供了四种工作模式:正常模式、空闲模式、休眠模式、关机模式。各种模式下的功耗如表1所列。
 

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