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MINITEST1100 涂镀层测厚仪

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产品型号德国EPK MINITEST1100 涂镀层测厚仪

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更新时间:2017-08-09 00:54:58浏览次数:1171次

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MINITEST1100覆层测厚仪由德国EPK生产,MINITEST1100测厚仪,镀层测厚仪,覆层测厚仪,MINITEST1100镀层测厚仪,用于测量钢铁基体上的非磁性覆层
德国EPK公司MINITEST 4100-3100-2100-1100用于测量以下覆层覆层包括涂层,镀层等:  
﹁钢铁基体上的非磁性覆层        
﹁有色金属上的绝缘覆层        
﹁绝缘基体上的有色金属覆层        
技术特征 1100 2100 3100 4100
MINITEST 存储的数据量        
应用行数根据不同测头或测试条件而记忆的校准基础数据数 1 1 10 99
每个应用行下的组BATCH数对组内数据自动统计计算,可设宽容度极限值   1 10 98
可用各自的日期时间标识特性的组数   1 zui多500 zui多500
数据总量 1 10000 10000 10000
MINITEST 统计计算功能
读数的六种统计值 x,s,n,max,min,kvar      
读数的八种统计值x均值的均值s,n,max,min,kvar,cp,cpk    
组统计值六种 x,x ,n,max,min,kvar      
 组统计值六种 x均值的均值s,n,max,min,kvar, cp,cpk    
存储显示每一应用行下的所有组内数据、统计值      
 分组打印以上显示和存储得数据、统计值    
显示并打印测量值、打印的日期和时间  
MINITEST 校准方法        
透过涂层进行校准CTC  
在粗糙表面上作平均零校准
利用 PC 机进行基础校准
补偿一个常数 OFFSET    
外设的读值传输存储功能  
保护并锁订校准值
更换电池时存储读值
 设置极限值    
公英制转换
连续测量模式快速测量,通过模拟柱识别zui大zui小值    
连续测量模式中测量稳定后显示读值
浮点或定点方式数据传送
无需连接测头即可读数值  
组内单值延迟显示  
连续测量模式中显示zui小值
可供选择的探头:            
测头 量程 低端分辨
容差 zui小曲率半径
(凸/凹)
zui小测量面积 zui小基体厚度 尺寸mm
FN1.6 0—1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5mm/10mm φ5mm F0.5mm/N50μm φ15x62
F5 0—500μ m 0.1μm ±(1%+0.7μm 1mm/5mm φ 3mm 0.2mm φ 15x62
F1.6 0—1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5mm/10mm φ5mm 0.5mm φ15x62
F3* 0—3000μm 0.2μm ±(1%+1μm) 1.5mm/10mm φ5mm 0.5mm φ15x62
F1.6/90管内测头 0—1600μm 0.1μm ±1%+1μm) 平直/6mm φ 5mm 0.5mm φ8x8x170
F10 0—10mm 5μm ±(1%+10μm) 5mm/16mm φ20mm 1mm φ25x46
F20 0—20mm 10μm ±(1%+10μm) 10mm/30mm φ40mm 2mm φ40x65
F50 0—50mm 10μm ±(3%+50μm) 50mm/200mm φ300mm 2mm φ45x70
N02 0—200μm 0.1μm ±(1%+0.5μm) 1mm/10mm φ2mm 50μm φ16x70
N08Cr铜上铬 0—80μm 0.1μm ±(1%+1μm) 2. 5mm φ 2mm 100μm φ15x62
N1.6 0—1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 1.5mm/10mm φ2mm 50μm φ15x62
N1.6/90管内测头 0—1600μm 0.1μm ±(1%+1μm) 平直/6mm φ5mm 50μm φ13x13x170
N10 0—10mm 10μm ±(1%+25μm) 25mm/100mm φ50mm 50μm φ60x50
N20 0—20mm 10μm ±(1%+50μm) 25mm/1000mm φ70mm 50μm φ65x75
N100 0—100mm 100μm ±(1%+0.3mm) 100mm/平直 φ200mm 50μm φ126x155
CN02绝缘基体上的有色金属覆层) 10~200um 0.2um ±(1%+1μm) 只限平直表面 φ7mm 无限制 φ17x80
               
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