北京中科光析化工技术研究所
SUPRA55热场发射扫描电子显微镜仪器简介:SUPRATM55采用了的GEMINI镜筒设计和环形IN-LENSSE探测器,具有束流稳定、分辨率高的特点,配有牛津X-射线电制冷能谱仪,能同时进行导电样品和非导电样品的高分辨成像及元素成分分析
4.环形高效 In-lens SE 探测器,具有良好的分辨率和对称性。 5.电磁/静电式复合物镜,可对磁性物质进行高分辨成像。 分辨率:1.0nm @ 15kV 1.7nm @ 1kV 4.0nm @ 0.1kV 放大倍数:12 ~ 900,000x 加速电压:0.1 ~ 30kV 可分析元素范围:4Be~94Pu 二次电子形貌(SEI)、背反射成分像/形貌像(BEI)、吸收电子图象、能谱成份图象分析 1、金属、非金属及复合材料、生物样品表面形貌、组织结构的观察分析及图象处理 2、纳米材料:纳米粉及纳米粉体的形貌观察和粒度测量分析 3、微区成分的定性、定量分析,并对重点区域做元素分布图 4、颗粒样品粒径、面积、周长、圆度的测量,提供粒度分布图,并可对孔径样品做孔径分布直方图、饼图 5、可对固体材料的表面涂层、镀层进行结合情况观察和厚度测量
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