东莞森铭设备有限公司
东莞森铭设备有限公司
可靠的精度、优良的再现性使用10nm波长间隔测量360nm~740nm全范围波长
可靠的精度、优良的再现性使用10nm波长间隔测量360nm~740nm全范围波长。采用双波束方式、双通道传感阵列实现高精度和高再现性。
工程学设计，操作方便通过取景器，可直接确认测量位置。此外，确认样品的测量位置时采用明亮的白色LED灯，与传统机型CM-3600d相比，取景器的能见度显著提高。
致力于免维修化的高可靠性设计通过技术革新实现SCI/SCE之间的切换，并将滤光器等部件的移动减小。在设计和产品校准中引入了*质量管理体系，使产品具有高可靠性和耐用性。
紧凑*的设计尽管内置了6英寸大型积分球，CM-3600A仍然具有时尚紧凑的外观。
具有3种测量口径可根据样品尺寸选择适当的测量口径。
改进了样品夹新增样品夹阻尼复位设计，使其不易损伤样品。由于可以保持90°打开状态，较厚样品的也变得简单易行。可测量A4尺寸大小的样品的中间部位。
防止电源开关的错误操作在电源开关的两侧设置隔板，以防不慎触碰到开关。
接口支持USB采用USB通信。
支持RoHS遵守要求排除有害化学物质的欧盟环境法规"RoHS指令"，是一种环保型产品。
主要用途各行业的研发和质量管理部门大学、实验室、检查机构主要特点可同时测量SCI和SCE通过特殊的数字化光泽控制方式同时测量SCI和SCE，仅需4秒即可连续测量。与传统机型不同的是，无需在SCI和SCE模式之间进行频繁的机械切换，这样就提高了工作效率。由于在切换模式时测量区域不会变化，因此可提供稳定的测量数据。
可进行荧光色的测量包含UV的光源和筛除UV的光源依次发光，可获取包含UV的光源下的样本数据和不包含UV的光源下（400nm或420nmUV截止滤光片）的样本数据。也可轻松获取任意光源下的数据（UV调整）。任意光源下仅需测量已知分光反射率数据的标准荧光样本，即可完成UV校正。UV校正后可获取相应光源下的样本数据。由于无需对UV截止滤光片移动引起的尝试错误进行UV调整，大大缩短了测量时间。
发射色和投射色可在1台仪器测量
您感兴趣的产品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
仪表网 设计制作，未经允许翻录必究 .
请输入账号
请输入密码
请输验证码
