西安馨莱欧电子科技有限公司
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芯片加热：所有水分测量探头，经过一段时间工作，由于工作环境的不良（如：油污、粉尘、腐蚀气、酸碱气体等），会对探头造成伤害，引起探头测量数据漂移产生偏差
芯片加热：所有水分测量探头，经过一段时间工作，由于工作环境的不良（如：油污、粉尘、腐蚀气、酸碱气体等），会对探头造成伤害，引起探头测量数据漂移产生偏差。解决的办法就是对芯片进行高温加热。一般加热在160℃以上，持续几分钟，用于蒸发芯片上的水分及油污，保证它的零位准确度。加热阶段，露点仪停止工作。经过几分钟冷却，又可进入循环测量。理论上讲温度变化与露点温度不存在关联。温度仅与相对湿度有关联，所以探头加热不影响露点温度测量。
公司经过长年研发和悉心钻研世界低湿测量的核心技术，成功研发出了除维萨拉DMT242 露点变送器以外的真正国产化的芯片加热核心技术，成功打破了维萨拉公司在这方面的技术垄断，经过多家公司的试用后均反馈很好，并送国家严格测试符合国标。它的横空出世将极大降低企业的采购成本，可以替代市场上-80℃以上的同类进口露点产品。
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