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3506-10 C测试仪

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产品型号3506-10

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更新时间：2023-11-21 11:23:33浏览次数：43次

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深圳市世家仪器有限公司

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产品简介

C测试仪 3506-10对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量● 根据BIN的测定区分容量

详细介绍

对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试

● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量

测量参数	C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ)
测量范围	C:0.001fF～15.0000μF D: 0.00001～1.99999 Q:0.0～19999.9
基本精度	(代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013
测量频率	1kHz, 1MHz
测量信号电平	500mV, 1V rms
输出电阻	1Ω (在1kHz时2.2 μF以上量程), 20Ω(除上述以外的量程)
显示	LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定)
测量时间	1.5ms：1MHz，2.0 ms：1kHz
功能	BIN分类测量,触发同步输出,测量条件记忆,测量值比较功能,平均值功能, Low-C筛选功能,振动功能,电流检测监视功能,输出电压值监视功能,控制用输入输出(EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口
电源	AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz,40VA
体积及重量	260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg
附件	电源线× 1,电源备用保险丝× 1，使用说明书× 1