2009 中国仪器仪表与测控技术发展观望与分析

由中国仪器仪表学会主办，《仪器仪表学报》、《电子测量与仪器学报》、《国外电子测量技术》、《电子测量技术》杂志社联合承办的“2009 中国仪器仪表与测控技术大会”将于2009年7月23~26日在哈尔滨举办。本次会议旨在促进我国仪器仪表与测控技术的发展，加快该领域的新理论、新方法、新技术的应用与推广，推进本行业产、学、研合作与交流。

　　首届CIMCTC会议于2007年6月在成都举行，第二届会议于2008年6月在湖南湘潭举办，历次会议规模均超过300人。往届会议期间，张钟华院士、高洁院士、杨士中院士、俞梦孙院士等我国仪器仪表与测控技术及相关领域的专家、学者出席会议并作专题报告，国内外许多家企业给与鼎力支持，使会议成为在本行业内具有很大影响力的交流平台。

　　2009`中国仪器仪表与测控技术大会将于2009年7月23日在哈尔滨召开。大会热忱欢迎广大同行踊跃投稿，大会面向以下10个专题征集学术论文。经审稿专家审阅，被录用论文将发表在《仪器仪表学报》增刊上，所有录用论文均进EI收录。

　　现将2009 中国仪器仪表与测控技术大会有关事宜通知如下：

　　一、会议专题

　　科学与实验仪器

　　通用仪器与仪表

　　传感与计量技术

　　光电子工程与通信

　　测控基础理论研究与前沿技术

　　复杂系统故障诊断、预测和健康管理

　　工程、结构、环境等安全检测与监控

　　测试技术与信号处理

　　工业过程控制与生产自动化

　　光、机、电一体化测试技术及其应用