北京海科思锐光电仪器有限公司
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SolarLaserSystem的SHR-IR波长计是一种理想的仪器，用于测量600nm-1800nm光谱范围内的脉冲和CW激光器和二极管的波长值，精度优于λ=20pm，以及检测分析线的FWHM
Solar Laser System的SHR-IR波长计是一种理想的仪器，用于测量600nm-1800nm光谱范围内的脉冲和CW激光器和二极管的波长值，精度优于λ=20pm，以及检测分析线的FWHM。
特点：
精度优于±20 pm
光谱范围600-1800 nm
实时频谱和FWHM分析
中心波长连续监测
适用于连续波和脉冲激光的波长控制
紧凑型设计；无移动部件
无需校准
光纤输入；扩散衰减器
USB电缆供电
除了波长测量之外，SHR-IR还提供了分辨率为4000(λ/Δλ, FWHM)的分析光谱的演示，分辨率为600nm的0.2nm至1800nm的0.5nm。SHR-IR还确保在调谐分析波长的过程中在线监测上述值。
仪器不包含任何移动元件；通过全速USB接口从计算机执行供电和控制。分析后的光通过带有漫射衰减器（包括在传输装置中）的多模光纤或直接（无任何光纤）引导到入口狭缝。
在分辨率和波长测量精度方面，SHR-NIR是配备有适当IR检测器的焦距不小于500mm的单色仪摄谱仪的替代品。与单色仪不同的是，SHR-NIR没有移动元件，无需扫描即可提供实时测量。SHR-IR刚性、稳定、准确，确保可靠性，价格更合理。SHR-IR光谱仪在近红外光谱范围内工作的激光系统的调整、校准和测试过程中。
参数：
光学方案 | Czerny Turner |
物理原理 | 基于Echele光栅 |
工作模式 | CW和脉冲 |
焦距，mm | 150 |
孔径比 | 1:12 |
光谱范围，nm | 600-1800 |
波长检测精度，nm | ±0.02 |
光谱分辨率（λ/ΔλFWHM） | 4000 （0.15nm for λ=600 nm到0.48nm for λ=1800 nm） |
被测光线宽要求, 不超过 | ≤125 cm-1 （4 nm for λ=600 nm到40 nm for λ=1800 nm） |
光学接口 | -直径600μm、长度1m的光纤，SMA-905连接器 -配备SMA-905的漫射衰减器FA-3 |
接口 | 全速USB |
软件 | WLMeter |
尺寸，mm | 142 x 110 x 80 |
重量，kg | 1.2 |
尺寸：
光学参量振荡器（OPO）。闲频光在调谐激光波长时的实时测量。
用SHR-IR测量的1725-1750nm激光二极管光谱。
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