简介
完善的高精度轮廓测量仪
• CV-3200/4500 系列是在Z1 轴(检出器) 上配有高精度弧形光栅尺和新型测臂的轮廓测量仪。高精度弧形光栅尺能直接读取测针的弧形轨迹，以实现高精度和高分辨力。与传统型号相比，新测臂使Z1轴测量范围增大了10mm 同时减少了工件的干扰。测臂安装部采用了磁性链接件，单此接触就能完成测臂的装卸，提高了易用性。
• 专为CV-4500 系列增加了以下两大特性：
(1) 装配双面测针，实现垂直方向(上/下) 连续测量，所获取的数据实现简单分析以往难以测量的内螺纹有效直径。
(2) 测力可在FORMTRACEPAK 软件中设置。无需调整配重位置。
产品参数规格：
| 货号 | CV-3200S4 | CV-3200H4 | CV-3200W4 | CV-3200S8 | CV-3200H8 | CV-3200W8 |
| CV-4500S4 | CV-4500H4 | CV-4500W4 | CV-4500S8 | CV-4500H8 | CV-4500W8 |
| 测量
范围 | X 轴 | 100mm | 200mm |
| Z1 轴(检出器) | 60mm (水平位置±30mm) |
| Z2 轴 (立柱) 移动范围 | 300mm | 500mm | 300mm | 500mm |
|
Z1 轴
(检出器) | 光栅尺类型 | 弧形 |
| 分辨力 | CV-3200 系列: 0.04µm, CV-4500 系列: 0.02µm |
| 测针上/ 下运作 | 弧形移动 |
| 测量方向 | 向前/ 向后 |
| 测针方向 | CV-3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下单独测量)
CV-4500 系列: 垂直方向 (向上/ 向下根据配重调整) |
| 测力 | CV-3200 系列: 30mN (上下可连续测量)
CV-4500 系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根据软件转换) |
| 跟踪角度 | 向上: 77º, 向下: 83º(根据表面粗糙度，使用标准单切面测针*1) |
|
驱动部 | 长度基准 | X 轴 | 激光全息光栅尺 |
| Z2 轴 (立柱) | ABS 光栅尺 |
| 分辨力 | X 轴 | 0.05 µm |
| Z2 轴 (立柱) | 1 µm |
| 驱动速度 | X 轴 | 0 - 80mm/s 外加手动 |
| Z2 轴 (立柱) | 0 - 30mm/s 外加手动 |
| 测量速度 | X 轴 | 0.02 - 5mm/s |
| 直线度*2 | X 轴 | 0.8µm/100mm | 2µm/200mm |
| 倾角范围 | X 轴 | ±45º |
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精度
(20ºC) |
CV-3200 系列 |
X 轴 | ±(0.8+0.01L)µm L = 驱动长度 (mm)
宽范围: 1.8µm/100mm
窄范围: 1.05µm/25mm | ±(0.8+0.02L)µm L = 驱动长度 (mm)
宽范围: 4.8µm/200mm
窄范围: 1.3µm/25mm |
| Z1 轴(检出器) | ±(1.6+|2H|/100)µm H = 水平位置上的测量高度 (mm) |
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CV-4500 系列 |
X 轴 | ±(0.8+0.01L)µm L = 驱动长度 (mm)
宽范围: 1.8µm/100mm
窄范围: 1.05µm/25mm | ±(0.8+0.02L)µm L = 驱动长度 (mm)
宽范围: 4.8µm/200mm
窄范围: 1.3µm/25mm |
| Z1 轴(检出器) | ±(0.8+|2H|/100)µm H = 水平位置上的测量高度 (mm) |
| 外形尺寸 (W×D×H) | 主机*3 | 756×482x
966mm | 756×482x
1166mm | 1156×482
x1176mm | 766×482
x966mm | 766×482
x1166mm | 1166×482
x1176mm |
| 重量 | 主机 | 140kg | 150kg | 220kg | 140kg | 150kg | 220kg |
*1: SPH-71 (No.354884)
*2: X 轴水平位置时
*3: 主机材料为花岗岩
注: 虽然天然石材测量桌的外观各有不同，但材料的稳定性是值得信赖的。
