HAST温湿度偏压寿命试验箱 返回列表页

产品用途：用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性，对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度偏压（不偏压）高加速应力寿命老化试验。

执行试验标准：

GB/T2423.40-1997电工电子产品环境试验第2部分：试验方法Cx：不饱和高压蒸汽的恒定湿热

IEC60068-2-66-1994环境试验.第2-66部分：试验方法.试验Cx：稳态湿热

JESD22-A100循环的温度和湿度偏移寿命

JESD22-A101稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）

JESD22-A102高压蒸煮试验（加速抗湿性渗透）

JESD22-A108温度、偏置电压和工作寿命

JESD22-A110 HAST高加速温湿度应力试验

JESD22-A118温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）

HAST温湿度偏压寿命试验箱具有以下特点：

高加速性能：HAST试验箱能够加速产品老化过程，从而在相对较短的时间内评估其可靠性和寿命。

温湿度控制：试验箱配备了温湿度控制系统，能够精确地调节和保持所需的温度和湿度条件。

压力控制：HAST试验箱还可以施加一定的气压，以模拟产品在高海拔或高压环境下的应力情况。

多功能性：除了模拟高温高湿条件外，HAST试验箱还可以进行其他类型的加速老化测试，如热循环、温度冲击等。

数据记录与分析：试验箱通常配备了数据记录和分析系统，能够监测、记录和分析测试过程中的温湿度等参数变化，为后续分析提供依据。

HAST温湿度偏压寿命试验箱在电子产品制造、汽车零部件、航空航天等领域得到广泛应用，能够帮助评估产品在恶劣条件下的可靠性和寿命，指导产品设计和改进工艺。