功率半导体器件是一种用于电能变换和控制的电力电子器件，在电路中起着整流、逆变、升/降压、变频等作用，广泛应用于新能源发电、电动汽车、轨道交通、工业自动化等行业。由于器件一般运行于工业级、车规级等各种严苛环境，需要进行带电可靠性测试，其中，功率循环测试是考核功率器件封装可靠性关键测试项之一。

客户背景

客户Z是国内电子元器件可靠性行业测试设备供应商&整体解决方案服务商，一直致力于电子元器件可靠性测试设备的研发、生产和服务，在功率半导体器件、IGBT模块可靠性测试以及SoC、MCU、Memory等集成电路可靠性测试设备均处于行业地位。

客户前期测试痛点

随着SiC、IGBT等功率半导体器件的高速发展，其可靠性测试需求呈激增趋势。客户Z主要需要针对功率半导体器件进行功率循环老化测试，面临如下三大测试痛点：

功率循环测试次数一般高达数万次，如秒级功率循环≥6万次，分钟级功率循环≥1.5万次，每次周期循环意味着加热电源需通断一次，如电源运行时动态响应不及时或电流出现较大波动甚至过冲等问题，对于加热能量控制、功率器件安全运行将产生不利影响；

l 纹波

纹波过高可能导致器件内部元件过热，缩短器件工作寿命，严重影响长时间的功率循环测试；

l 体积

一般功率循环测试系统需要3台以上大电流电源，如测试电源体积过大，对客户预留测试空间要求较高。

我们的解决方案

针对以上客户需求，我们提供了N36200系列超稳定低纹波可编程电源，通过长时间客户真实场景试用，很好的满足了前期需求。

l 稳定可靠

通过通过优化器件选型、系统散热和环路控制，可保证24 h输出漂移（30min热机）≤0.01%，1000h输出漂移≤0.05%，长时间工作输出稳定，支持CC优先模式，可保证大电流输出零过冲；

l 低纹波

电流纹波有效值Irms≤0.1%，输出电流更纯净无干扰；

l 省空间

2U空间支持输出1100 A大电流，节省用户测试空间。

此外，我公司可提供源表、全电压等级直流电源等产品，满足功率半导体器件HTRB、HTGB等带电可靠性测试需求。