1、核心优势：
- 混合成像计数：单光子成像计数模式下的X射线直接转换能力
- 千赫帧速率占空比> 99%
- 75μm像素尺寸的高空间分辨率
- 优秀的点扩散函数
- 无读出噪声和暗电流
- 极其紧凑的外壳
2、应用领域：
-X射线光子相关光谱(XPCS)
- Ptychography(叠层衍射)成像技术
- 时间分辨实验
- 大分子晶体学(MX)
- 单晶衍射(SCD)
- 粉末衍射(PD)
- 表面衍射
- 小广角/X光散射(粉煤灰/蜡)
- X射线成像
技术参数：
型号 | EIGER2 X 500K | EIGER2 X 1M | EIGER2 X 4M | EIGER2 X 9M | EIGER2 X 16M | EIGER2 XE 9M | EIGER2 XE 16M |
有效面积：宽x高 [mm2] | 77.1 x 38.4 | 77.1 X 79.7 | 155.1 x 162.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 | 233.1 x 244.7 | 311.1 x 327.2 |
像素大小 [μm2] | 75 x 75 |
总像素数量 | 1028x512 | 1028x1062 | 2068 x 2162 | 3108 x 3262 | 4148X4362 | 3108 x 3262 | 4148X4362 |
间隙宽度, 水平/垂直（像素） | -/- | -/38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 | 12 / 38 |
帧频* [Hz] | 2000 | 2000 | 500 | 230 | 130 | 550 | 550 |
计数器深度 [ bit ] | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 | 16 |
读出时间 | 连续读数 |
点扩散函数 | 1 pixel |
传感器材料 | Si |
传感器厚度 [μm] | 450 |
能量范围 [keV] | 6-40 |
计数率 [ph/s/pixel] | 107 |
尺寸（WHD）[mm3] | 114 x 92 x 242 | 114 x 133 x 242 | 235 x 237 x 372 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 | 340 x 370 x 500 | 400 x 430 x 500 |
重量 [kg] | 3.7 | 4.7 | 15 | 41 | 55 | 41 | 55 |
冷却方式 | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） | 水冷（模块）/风冷（电子学） |
北京优纳珂科技有限公司是瑞士DECTRIS（德科特思）委任的在中国地区同步辐射和科研实验室总代理。负责DECTRIS（德科特思）产品在中国软硬件的售前售后，EIGER2、PILATUS3、MYTHEN2、ELA、QUADRO、SINGLA探测器参数。公司拥有专业的销售、服务团队，为您提供产品咨询、设备安装、设备维护等专业的一站式服务。公司秉承提供丰富的产品、高超的技术与良好的服务态度，本着“信誉优先、客户至上"的原则，竭诚为您服务。
