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技术文章

SoC的发展将使测试与测量设备嵌入芯片

阅读:356发布时间:2009-1-8

要点

    芯片设计者正开始在自己的复杂IC上设计测试与测量仪器。

    在IC中设计测试仪器的潮流开始于CPU核心与总线的数字调试硬件。

    现在,设计者也在高速I/O块中建立分析仪器。

    设计者正在高频芯片的内部作业中集成更复杂的模拟与RF测试仪器,如读取通道IC。


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