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广东星拓环境试验设备科技有限公司


低气压试验箱 1000L

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具体成交价以合同协议为准

产品型号ATP-1000D

品       牌

厂商性质其他

所  在  地东莞市

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更新时间:2022-10-09 15:15:24浏览次数:211次

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产品简介

低气压试验箱,又称低气压试验机、低气压(高度)试验箱、高低温低气压试验箱、高低温低气压实验箱、高低温湿热低气压试验箱,适用于电工、电子产品及其他产品、零部件及材料进行低气压试验的环境试验箱设备。

详细介绍

| 产品介绍

低气压试验箱 1000L

ATP-1000D

突出特点:

测试箱采用激光焊机,具有的密封性能,制冷系统采用博客压缩机,制冷性。进口控制器,精准控制。

低气压试验箱 1000L
右视图
右视图
开箱视图
开箱视图
控制器展示
控制器展示

低气压试验箱 800L(图1)低气压试验箱 800L(图2)低气压试验箱 800L(图1)低气压试验箱 800L(图4)低气压试验箱 800L(图5)低气压试验箱 800L(图6)低气压试验箱 800L(图7)低气压试验箱 800L(图8)低气压试验箱 800L(图9)低气压试验箱 800L(图10)

产品视频

合作案例

华为技术
北方华创
紫光集团
中科院
中山大学
哈尔滨工业大学
清华大学
特斯拉
中国汽车研究院
银河电子
北方夜视集团
云南北方光电仪器有限公司
中天宽带技术
中国建材检验
无锡先导集团
冠捷科技
深圳多美达数码科技
天津航空机电
东莞市慧彤电子
深圳市金派医疗
中国矿业大学
浙江银轮机械
北京民 用飞机技术研究中心
中汽研汽车工业工程

技术参数

型号ATP-1000D
调温调湿方式平衡温湿度控制系统(BTHC
性能温度范围-40 ~ +150℃(常压时)
温度波动度≤±0.5℃(在常压温度恒定的情况下)
温度偏差≤±2.0℃(常压时)
温度分布均匀度≤±2.0℃(常压时)
湿度均匀度±3.0%RH(常压时)
降温速率0.7℃~1.0/min.全程平均(常压时)
压力范围常压~0.5kPa
压力偏差≤4kPa时,±0.1kPa
   
4kPa~40kPa时,±0.5kPa
   
当≥40kPa时,±2.0kPa
降压速率常压~1kPa ≤30min.
压力恢复速率10kPa/min. 可调
标称内容积1000L
内箱尺寸(宽x深x高)mm1000x1000x1000
外箱尺寸(宽x深x高)mm1450x2400x2300
材料内箱优质SUS304#雾面不锈钢板
外箱优质碳素钢板,表面作静电彩色静电喷塑处理
密封条进口硅胶密封条
绝缘材料硬质聚氨脂泡沫保温层+玻璃纤维
系统加热器优质镍铬合金丝电加热器,无触点控制方式(SSR)
加湿器不锈钢铠装加湿器(水盆加热加湿方法)
制冷机德国博客或美国谷轮压缩机
抽真空VSV-20 1 真空泵(含油雾过滤器)
控制器显示屏
   
运行方式
   
程序容量
   
设定方式
   
输入
   
通讯接口
7吋显示器TFT彩色LCD控制器;
   
程序运行、定值运行;
   
20,1000,20个循环 (每个循环步数99)
   
中英文菜单、触摸屏方式输入;
   
热电偶/铂电阻/电压/电流;
    USB/RS-232/RS-485
(可选,软体另购)
噪音等级≤70dBA声级,,恒定时,设备正前方1米处)
使用环境条件环境温度: +5 ~   +35℃;
   
环境湿度: ≤85RH(无结霜);
   
大气压值: 86kPa ~ 106kPa
电源要求AC 3801±10%V 50±0.5Hz 三相四线+保护地线
支持定制化需求


注:以上技术参数为室温+20℃或循环水温+25℃、空载(无试样)时下所测得。

试验标准及方法

1)GB/T 10590-2006 高低温/低气压试验箱技术条件;
2)GB/T 10589-2008 低温湿热箱技术条件;
3)GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件;
4)GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
5)GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
6)GB/T 2423.21-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验M:低气压 (IEC 60068-2-13:1983, IDT);
7)GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
8)GB/T 2423.25-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AM:低温/低气压综合试验 (IEC 68-2-40:1976, IDT);
9)GB/T 2423.26-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BM:高温/低气压综合试验 (IEC 68-2-41:1976, IDT);
10)GJB 150.2A-2009 装备实验室环境试验方法 第2部分:低气压(高度)试验;
11)GJB 150.3A-2009 装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验;
12)GJB 150.4A-2009 装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验;
13)GJB 150.6A-2009 装备实验室环境试验方法 第6部分:温度高度试验。


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