芯片级电磁兼容测试系统
我公司能提供满足以下标准要求的芯片级电磁兼容测试系统的全套解决方案，欢迎。
一、IEC 61967系列标准为电磁发射测量标准，包括如下9项标准：
IEC 61967-1: 通用条件和定义
IEC 61967-1-1:通用条件和定义-近场扫描数据交换格式
IEC 61967-2:辐射发射测量-TEM小室和宽带TEM小室法
IEC 61967-3:辐射发射测量-表面扫描法
IEC 61967-4: 传导发射测量-1Ω/150Ω直接耦合法
IEC 61967-4-1:传导发射测量-1Ω/150Ω直接耦合法和应用指南
IEC 61967-5:传导发射测量-法拉第笼法WFC
IEC 61967-6:传导发射测量-磁场探头法
IEC 61967-8:辐射发射测量-带状线法
二、IEC 62132系列标准为电磁抗扰度测量标准，包括如下7项标准：
IEC 62132-1: 通用条件和定义
IEC 62132-2: 辐射抗扰测量-TEM室和GTEM室法
IEC 62132-3: 大电流注入法BCI
IEC 62132-4: 射频功率直接注入法
IEC 62132-5: 法拉第笼法WFC
IEC 62132-8:辐射抗扰测量-带状线法
IEC 62132-9:辐射抗扰测量-表面扫描法
三、IEC 62215系列标准为脉冲抗扰度测量标准，包括如下2项标准：
IEC 62215-2:同步瞬态注入法
IEC 62215-3:非同步瞬态注入法
