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V70系列耐压测试仪_绝缘电阻测试仪_接地电阻测试仪

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更新时间：2022-12-08 08:47:37浏览次数：153次

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产品简介

台式耐压测试仪五合一功能VitrekV70系列耐压测试仪，交流耐压测试仪，交直流耐压测试仪，绝缘电阻测试仪，接地电阻测试仪采用彩色触摸液晶显示器和高速DSP技术，紧凑耐用。V70系列在美国制造，满足严格的UL，CSA，TUV和IECHipot要求。V70系列耐压测试仪提供的速度，准确性，用户安全性和可靠性。从六种低成本型号中选择，提供5KV的交流和直流高压，100nA的泄漏电流测量，450......

详细介绍

主要功能：

4.3英寸彩色触摸显示屏，易于使用直观的用户界面
6种功能可选择AC/DC Hipot、IR、接地连接、连续性和内置开关
美国制造，在加利福尼亚州圣地亚哥设计和制造
结构紧凑、重量轻、坚固耐用、无风扇、快速（测试时间至少100mS）且准确
5KV 交直流耐压测试，源电流20mA
接地连接1-30A RMS（峰值42A），100µΩ分辨率
100nA泄漏电流分辨率
低拥有成本，两年校准间隔
标准USB 2.0、串行/RS232、数字I/O接口
绝缘电阻450GΩ, 加载电压20-5000V
具有稳定/上升通道模式的多模式IR
测试内存存储多达999个步骤和60个测试序列
内部自检充分发挥输出并验证当前准确性
预先编程的日常验证测试，使用可选PVD测试负载
150µS安全关机
斜坡放电能力
可选ARC电弧检测 1-20mA
符合UL、CSA、IEC安全测试仪要求
通过EN61010认证的CE安全标志
两年质保，含零件及人工

主要技术指标：

交流耐压测试：

输出电压：10至5000V RMS，50/60 Hz（V76上2500V）
精度：1%设定值+5V，空载至满载
分辨率：1V
负载电流：20mA
漏电流准确度：1%读数+5uA
分辨率：1uA

直流耐压测试：

输出电压：20至5000V（V76上2750V）
精度：1%设定值+5V，空载至满载
分辨率：1V
负载电流：10mA
漏电流精度：1%读数+1uA
分辨率：0.1uA

IR-绝缘电阻测试：

测试电压：20至5000VDC（V76上2750V）
精度：2.5%设定值+5V，空载至满载
分辨率：1V
充电电流：5mA自动
电容负载：2uF
阻抗：绝缘电阻值:450GΩ（90MΩ/V）最小绝缘电阻值:150KΩ
准确度：2%（rdg<值的5%），5%（值的15%），10%（值的30%），20%（值的30%以上）
分辨率：值的0.1%
最小/限制：为每个步骤定义，可设置为无
测试完成
- 按时结束：最终读数的确定
- 端对端：测试结束时，任何读数在限制范围内
- 未通过时结束：对于超出极限的任何读数，测试以未通过结束
- 稳定结束：测试结束时通过限值内的稳定/上升读数

低电阻测试：

阻抗范围：0Ω至60KΩ
精度：1.5%+0.015Ω（<13Ω），3%+1ohm（<1KΩ），5%（<13KΩ）
分辨率：降至0.001Ω
最小测试时间：60 mS
试验方法
两线测量，10.5mA/4.15V
电阻补偿
测试引线/夹具测量误差补偿

接地电阻测试：

测试电流：1至30Arms（峰值42A），50/60Hz
精度：2.5%+10mA
分辨率：可在所有级别设置为0.01A
合规性：所有电流>4.5Vrms（6V pk）
测试方法：4线测量
接地阻抗：电阻：在规定的测试电流（4.5欧姆）下，高达合规V限值，最小/限制：为每个步骤定义，最小可设置为无
精度：2.5%+3mΩ（<2A），2mΩ（<6.5A），1mΩ（其他）
分辨率：0.1mΩ（>6.5A），1mΩ（否则）
电阻补偿：测试引线/夹具测量误差补偿

测试时序：

上升斜坡时间：对于交直流耐压测试，0至99.9s（0.1s分辨率，0.05s精度）
测试/停留时间：0.1到9999s或用户端（0.1s分辨率，0.15s精度）
下降斜坡时间：可以设置为0s或与斜坡时间相同，如果，则自动跳过，下一步是相同的交直流耐压或绝缘电阻测试类型。
关闭时间：
- 故障：150us以内
- 高压安全：1ms内
- 用户停止或联锁打开：2ms内
- 电阻/电流限值：100ms以内
故障：对于耐压测试，在整个测试过程中自动检查负载电流是否突然不受控制地增加，无最小/泄漏限制。
电弧检测：对于耐压测试，可设置为无或可调水平，介于1和30mApk之间，带宽为5MHz。
暂停步骤：规定长度在0.1秒到999.9秒之间的定时暂停。
保持步幅：用户继续保持步骤，在该步骤执行时向用户显示两行消息。
内置高压扫描开关：提供内置16继电器切换控制（V76型号）。对于所有其他V7X型号，提供最多4个VITRAK 964i高压开关系统的控制，每个开关步骤允许对所有开关的状态进行控制。
测试存储器：最多可以在60个不同的序列中定义999个测试步骤。