当前位置：上海楚光仪器技术有限公司>>测试图卡>>纹理损失测试图卡

纹理损失测试图卡

返回列表页

参考价

面议

具体成交价以合同协议为准

产品型号

品牌

厂商性质其他

所在地上海

在线询价收藏产品

联系方式：经理查看联系方式

更新时间：2023-01-07 08:04:20浏览次数：183次

联系我时，请告知来自仪表网

产品分类 品牌分类

  测试图卡

全部产品列表

暂无信息

上海楚光仪器技术有限公司

经营模式：其他

商铺产品：83条

所在地区：上海上海

联系人：经理

询价 给他留言

产品简介

简介低对比度正弦西门子星非常适合分析纹理损失，即低对比度时精细细节的损失

详细介绍

简介

低对比度正弦西门子星非常适合分析纹理损失，即低对比度时精细细节的损失。成像系统中的纹理损失是由降噪和其他图像处理技术引起的。

低对比度西门子之星采用的方法建立了用于纹理分析的将来的ISO标准195767-1。图像工程公司的图像分析软件iQ-Analyzer的分辨率模块包括一个新的TE280图表，以支持西门子恒星分析。使用低对比度（调制度为18％）的西门子星，您可以享受正弦西门子星的优势。除了有限的分辨率（MTF10）和清晰度以外，使用iQ-Analyzer进行分析的结果还提供了完整的MTF。TE276是用于纹理分析的最终解决方案，它包括枯叶结构和对齐和线性化所需的外围标记。Image Engineering在各种出版物中表明，其方法目前是解决纹理损失的解决方案。TE42多功能测试图中使用了相同的枯叶结构和低对比度西门子星，以进行图像质量测量。

主要纹理分析图

*单击图卡编号以在Image Engineering网站上显示信息。

*下列图卡可以使用图像分析软件iQ-Analyzer进行分析。

・TE276：枯叶

・TE280：纹理损失测试图

关键词：图像处理标准