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XLNCESMX-BEN台式能量色散X射线荧光分析仪(EDXRF)为工艺开发、过程控制和质量保证等领域提供无损检测、薄膜层厚和成分的测量手段
XLNCE SMX-BEN 台式能量色散X射线荧光分析仪(EDXRF)为工艺开发、过程控制和质量保证等领域提供无损检测、薄膜层厚和成分的测量手段。是研发工作和失效分析中的分析方法。它能促进在前期或早期生产阶段的材料选择和配方制定,并支持加工平台工具以及产能生产。
特殊应用领域:
XLNCE SMX-BEN提供了的多样化分析和超高的性价比。
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