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MX-1100塑料薄膜和纸张测厚仪

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更新时间：2018-05-14 09:00:00浏览次数：693次

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上海洪富仪器仪表有限公司

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产品简介

美国Oakland公司生产的多功能自动薄膜和纸张测厚仪MX-1100，既可单独使用，也可以和电脑连接。可选配质量控制软件（Quality Control Software），以用于测量结果的分析和统计。

详细介绍

仪器特性：

■操作简单三种操作模式：手动，数字和软件。可外接打印机或第三方软件以显示分析图表和统计值。
■提供离散点测量和厚度轮廓测量测头可自动升降。
■丰富的扩展功能可外接打印机，电脑和专业软件。

详细参数
可测样品	所有的薄膜和薄片材料
测量范围	0 - 50mil，0 - 100mil，0 - 200mil，0 - 300mil 或0 - 1270um，0 - 2540um，0 - 5080um，0 - 7620um 或0 - 1.3mm，0 - 2.5mm，0 - 5.0mm，0 - 7.5mm 或其他测量范围当订购公制单位时，请um或mm显示
行程（探头缩回高度）	对应的测量范围加1270um - 2540um 分辨率：0.01mil或0.1um或0.001mm，量程在0 - 200mil时； 0.1mil或1um或0.001mm，量程在0 - 300mil时。
精度	+/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm
平行度	+/-1.0um或更好
测头尺寸	直径4.3mm（薄膜）直径15.9mm（纸张）或针对其他材料的其他尺寸
测头压力	4.0 - 8.0psi（0.562kg/cm²），薄膜 7.3psi（0.513kg/cm²），纸张或针对其他材料的其他设置
循环速率	20/分钟（40/分钟，可选），薄膜 20/分钟（12/分钟，可选），纸张或针对其他材料的其他设置
下落速率	1mm/sec，纸张
仪器尺寸（宽x长x高）	25 x 25 x 28 cm
标准配置	主机，标准厚度片，脚踏开关
选配件	打印机，质量控制软件（Quality Control Software）
符合标准	ASTM D 374，TAPPI T-411，BS 2782-6，Din 53370