C/Dphy讯号检查机 点灯治具 NB屏高分辨率：是专门设计用于中小液晶显示屏测试，用于不同接口、不同尺寸的小型模组提供点屏时所需电源、图形、视讯信号、GPIO...

定制化Aging板卡-BIST-FS支持同步驱动二片面板,支援BIST及Aging Mode机种,每组输出可提供CLK,可由user自由编辑, 提供多卡连接接口...

定制化Aging板卡KX-180A 支持8路讯号同步输出,每CH支持8路电源输出,支持6路LED输出160mA/CH

定制化Aging板卡KX-937A支持驱动一片120Hz面板或二片60Hz面板，支持支持6/8/10 Bit，可编程Power On Sequence，支持电流...

Aging板卡KX-737支持LVDS讯号格式，支持24机种存储功能，方便切换机种，支持驱动上位机下载参数(Timing参数/Power及Pattern).支持...

讯号检查机-点屏测试-KX-248M本装置是专门设计用于液晶显示屏测试，用于不同接口、不同尺寸的小型模组提供点屏时所需电源、图形、视讯信号、GPIO等激励，满足...

讯号检查机-点屏测试-KX-226M是专门设计用于液晶显示屏测试，用于不同接口、不同尺寸的小型模组提供点屏时所需电源、图形、视讯信号、GPIO等激励，满足多种单...

讯号检查机-KX-120M是专门设计用于穿戴类液晶显示屏测试，用于不同接口、不同尺寸的小型模组提供点屏时所需电源、图形、视讯信号、GPIO等激励，满足多种单机测...

产品带载实验 温湿运行老化系统 主要用于LCD和OLED行业，覆盖全尺寸范围，用于Module/Open Cell产品，本设备可配合讯号检查机实现产品高温加热老...

TFT-LCD带载测试 隧道式老化测试系统主要用于LCD和OLED行业，覆盖全尺寸范围，用于Module/Open Cell产品，本设备可实现产品自动上下料，自...

半导体测试用 导通电阻测试系统1、PCB板通孔导通评估2、BGA、CSP焊料连接性评估3、焊料连接性评估4、FPC耐用性评估5、导电粘性结剂、异方性导电膜(AC...

小型高低温试验箱主要用于汽车零部件、电子零组件、塑化工业、食品业、半导体、电脑周边配件、及各相关产业之研发，品质管理工程之试验规范。