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公司简介
北京三禾泰达技术有限公司成立于2003年1月21日2018~2020年间共取得11项产品软件著作权2018年激光干涉测平仪项目获得北京市朝阳区颁发的研发能力提升奖励2020年被认定为企业。2021年被认定为中关村企业2021年2月有10项实用新型申请被国家局受理。十几年来公司通过在测量领域的深耕和拓展,为市场提供了数款性价比的测量仪器,其中7种仪器。公司产品主要面向五个大的市场方向: 半导体WAFER平面度/厚度检测、光学玻璃几何参数特征检测、利用近红外光进行砷化镓/硅晶体缺陷检测、压电水晶谐振器电学参数检测以及激光传感器应用研究,我们的产品包括:LINT-208G型WAFER平坦度半自动测试仪,该仪器目前;LINT-208G型WAFER平坦度/厚度全自动测试系统,该仪器目前;LST-208H型共聚焦法平面度测试仪,该系...
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