在 IC 芯片研发与量产环节，温湿度试验箱是模拟复杂工况、验证芯片长期可靠性的核心设备。广东皓天检测仪器有限公司（简称 “广皓天"）凭借高精度温湿度试验箱解决方案，已为多家半导体企业攻克汽车级、工业级 IC 芯片的温湿度耐受性难题，助力芯片在环境下的故障率降低 70%，稳定运行寿命提升至 10 万小时以上。

针对某车企车规级 MCU 芯片的高低温可靠性测试需求，广皓天定制的温湿度试验箱实现 - 55℃~150℃超宽温域控制，温度变化速率达 15℃/min，湿度控制精度 ±2% RH，符合 AEC-Q100 标准要求。在模拟发动机舱高温与冬季极寒交替场景中，该温湿度试验箱连续 1000 小时循环切换 - 40℃低温与 125℃高温环境，实时监测芯片引脚接触电阻、逻辑功能稳定性。测试发现，原芯片在 - 35℃以下存在指令响应延迟问题，基于温湿度试验箱提供的 80 组失效数据，企业优化芯片封装材料与内部布线设计，最终使芯片在 - 40℃~125℃全温域内功能故障率降至 0.1% 以下，顺利通过车规认证。

为解决工业级传感器芯片在高湿环境下的性能衰减问题，广皓天温湿度试验箱构建 “85℃+85% RH" 双 85 高温高湿老化场景。设备搭载不锈钢内胆与精密湿度传感器，连续 500 小时模拟化工车间高湿工况，实时记录芯片灵敏度变化。测试数据显示，未优化芯片在高湿环境下灵敏度下降 25%，而基于温湿度试验箱反馈的封装缺陷数据，企业改进密封工艺后，芯片灵敏度衰减率控制在 5% 以内，满足工业自动化长期运行需求。