冷热冲击箱，广泛应用于电子元器件质量检测

冷热冲击箱，广泛应用于电子元器件质量检测

产品详解

冷热冲击箱，又名温度冲击试验箱或热冷冲击试验箱，是一种用于测试产品在瞬间经受高温和极低温连续变化环境下的耐受能力，从而评估其可靠性和稳定性的关键环境试验设备。它广泛应用于电子元器件、汽车、航空航天等领域的质量检测与可靠性筛选。

一、产品详情与用途

该设备通过模拟急剧的温度变化，在短时间内将测试样品暴露于高温和低温的交替环境中。其主要目的在于：

• 可靠性筛选：快速发现产品因热胀冷缩引起的材料缺陷、焊接不良、性能失效等潜在问题。

• 品质验证：检验产品的结构完整性、电气性能稳定性以及对温度的适应能力，为产品改进和质量控制提供数据支持。

冷热冲击箱，广泛应用于电子元器件质量检测

二、工作原理

主流的冷热冲击箱采用三箱式（提篮式） 结构，分为高温区、低温区和测试区。

1. 测试样品放置于测试区的提篮内。

2. 当进行高温冲击时，提篮将样品从测试区移入高温区，在短时间内使样品达到预设高温并保持。

3. 高温测试结束后，提篮迅速将样品移回测试区进行短暂的温度平衡。

4. 随后，提篮再将样品迅速移入低温区，使其承受剧烈的低温冲击。

5. 如此循环，实现高、低温的快速切换，构成严酷的温度冲击测试。

三、主要功能及特点

• 快速温变：能在极短时间内（通常数秒内）完成高低温区域的转换。

• 精准控温：采用高精度PID控制器，确保高温区和低温区的温度控制精确、稳定。

• 高效恢复：温度冲击后，能快速恢复到预设的稳定温度，为下一次冲击做准备。

• 智能安全：具备超温保护、漏电保护、风机过热保护、压缩机过载保护等多重安全装置。

• 人性化操作：大尺寸触摸屏，可编程控制器，用户可轻松设定复杂的温度曲线和循环次数。

• 坚固耐用：内胆通常采用高级不锈钢，保温层设计优良，确保长期运行的可靠性与节能性。

四、技术参数

• 温度范围：高温区：+60℃ ~ +200℃；低温区：-10℃ ~ -65℃ 或更低

• 转换时间：＜10秒（从高温到低温或反之，样品实测）

• 温度恢复时间：＜5分钟（恢复至稳定状态）

• 预热/预冷时间：约30分钟（从常温升至/降限温度）

• 内箱尺寸：可根据客户需求定制（如 40×40×40cm, 50×50×50cm 等）

五、应用场景与领域

• 电子元器件：IC、芯片、电路板、BGA、半导体、电阻电容等。

• 汽车电子：ECU、传感器、连接器、车载显示屏等在温度下的可靠性验证。

• 航空航天：对安全性要求机载设备、导航系统的环境适应性测试。

• 通信设备：手机、基站、光模块等通讯产品在温度骤变下的性能稳定性。