深圳市安测仪器有限公司
适合于自动设备的高速电阻计,可测极小电子元件 测试电流:DC 测量时间:快0.9ms 累积时间:快0.1ms 小分辨率:0.1μΩ
产品特点:
通过施加电压限制功能,检查电压可以改为5V以下
控制冲击电流的接触改善功能,支持测量极小元件缩放功能能够补偿实装状态或检查阶段的偏差
产品功能:
外加电压限制功能能轻松测量极小电子元件(0201尺寸)
通过将测量时的外加电压限制在5V以下,额定电压较小的0201尺寸的原件无需外加压力即可进行测量。
快速、准确的接触,接触改善功能
与测试物接触时,可以刺破探头和测试物之间的氧化膜和污垢,改善接触状态。通过改善接触实现稳定测量,而且能降低接触错误率,从而提供生产效率。
针对低功率测量的接触改善功能
进行接触改善时,通过控制流出测试物中的冲击电流,可以将接触改善的使用范围扩大至小型的铁氧体磁珠或0201尺寸的极小电阻检查中。
使用缩放功能可以补偿并测量实际安装状态
通过缩放功能, 实际安装时和单独下能够补偿检查时的电阻值的差异(探测位置的影响等)。在进行分流等低电阻的电流检测电阻的检查发挥作用。
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