PHASCOPE PMP10 测厚仪-膜厚计 测厚仪 返回列表页

PHASCOPE PMP10 测厚仪手持式仪器，PHASCOPE PMP10 测厚仪用于非破坏性的测量多种基材上的，PHASCOPE PMP10 测厚仪包括小型结构和粗糙表面上的导电涂层的厚度。

特点

• 手持式仪器，根据相位敏感电涡流法快速、准确地测量镀层厚度，符合 DIN EN ISO 21968 标准
• 可测量印刷电路板上的铜厚度（频率为60 kHz 或 240 kHz 的探头 ESD20Cu）
• 可测量印刷电路板中孔铜厚度（探头 ESL080）
• 可测量铁、非铁金属或非导电部件上金属涂层的厚度
• 提供的电脑软件FISCHER DataCenter®具有以下功能：传输和保存测量值，全面的统计和图形化评估，简便生成并打印个人检测报告

典型应用领域

• 测量钢铁上的锌、铜或铝镀层（适合粗糙表面的探头ESD20Zn）
• 钢制小部件上的锌镀层（用于较小测量面积的探头 ESD2.4）
• 钢铁上的电镀镍层（探头ESD20Ni，频率 60 KHz 或 240 kHz)