SFT9400系列X射线荧光镀层测厚仪（广东膜厚仪）精工膜厚仪（精工镀层测厚仪） 返回列表页

产品特点：
★搭载有高功率X射线管及双检测器（半导体检测器+比例计数管）
可对应组合复杂的应用程序，特别是可识别Ni和Cu之类能量较为接近的元素。能够对Ni/Cu和Au/Ni/Cu在不使用二次滤波器的情况下进行测量
对于含Br的电路板，可以不受Br的干扰对Au的镀层厚度进行高精度的测量可测量0.01μm以下的超薄的Au镀层厚度★搭载块体FP发软件和薄膜FP法软件 对应含铅的合金镀膜和多层镀膜等，适用于广泛的运用领域★适用超微小面积的测量 标准配备的15μmΦ的准直器，可对超微小面积进行测量。★搭载了可3段切换的变焦距光学系统★拥有防冲撞功能★搭载高精度样品平台，更可测量大型线路板（SFT9455）★搭载激光对焦系统★搭载测试报告自动生成软件

 产品介绍：
SFT9000系列里zui高级的机型「SFT9400系列」搭载有75W高功率X射线管与双检测器（半导体检测器+比例计数管），能满足“薄膜镀层”、“合金镀层”、“超微小面积测量”等镀层厚度测量需求的高性能镀层厚度测量仪。

         此外，SFT9400系列还在测量镀层厚度的基础上，新增了可对不同被测物体积材料进行定性分析和成分分析的功能。

SFT9400系列产品规格
型号 SFT9400/SFT9450/SFT9455
仪器的特长 微小面积对应及高性能型
可测量元素 原子序号22（Ti）~ 83（Bi）
X射线源 小型空气冷却型高功率X射线管球（Mo靶）
管电压：50kV  管电流：1.5mA  Be窗
滤波器 一次滤波器：Mo-自动切换
二次滤波器：无
照射方式 上方垂直照射方式
检测器 半导体检测器+比例计数管（不需液氮的检测器）
仪器校正 自动校正+手动校正
准直器（标准配置） ○型（Φ0.015、Φ0.05、Φ0.1、Φ0.2mm）
安全性能 样品室门锁，样品防冲撞功能
样品图像对焦 有（激光对焦）
样品观察 CCD摄像头+倍率光学器+卤素灯照明
焦点切换功能 3段切换9400：10/40/70mm
              9450：10/25/40mm
X-ray Station 台式电脑
（OS; MS-Windows XP?）
打印 喷墨打印机
应用 单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍
软件 块体FP法软件、薄膜FP法软件
测量功能 自动测量、中心搜索、图像识别处理
修正功能 基材修正、已知样品修正、人工输入修正
统计处理功能 MS-EXCEL
报告制作功能 MS-WORD
 

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