日本精工膜厚仪/镀层厚度测量仪/精工测厚仪//SFT9100M荧光X射线镀层测厚仪 返回列表页

SFT9200M系列产品规格
型号 SFT9100M 仪器的特长 符合低价位的机种 可测量元素 原子序号22（Ti）~ 83（Bi） X射线源 小型空气冷却型X射线管球
管电压：45kV  管电流：1mA   滤波器 一次滤波器：Mo固定二次滤波器：Co滤波器 照射方式 上方垂直照射方式 检测器 比例计数管 仪器校正 自动校正
准直器（标准配置） ○型（Φ0.1mm）□型（25×300μm） 安全性能 样品室门锁，样品防冲撞功能 样品图像对焦 有（激光对焦） 样品观察 CCD摄像头固定倍率、卤素灯照明 焦点切换功能 选项10/50mm X-ray Station 台式电脑
（OS; MS-Windows XP?） 打印 喷墨打印机 应用 单层、双层、多成分合金薄膜、成分比同时测量、化学镍 软件 薄膜FP法软件、电镀液分析
块体FP法、能谱搜索软件 测量功能 能通过手动（1个点）决定测量的位置
修正功能 基材修正、已知样品修正、人工输入修正
统计处理功能 MS-EXCEL报告制作功能 MS-WORD

：刘
-13
：landylau888
贸易通：jinhui8403
邮政编码：518102
深圳市宝安大道盐田商务广场A座421室