博曼加长版扩展样品台正式发布

2019年1月，博曼XRF镀层测厚仪正式发布加长版扩展样品台，该平台适用于半导体和晶圆等微电子领域。在微电子领域，对于电路密度、线距、调整块、纵横比和微通道的检测占主导地位，且行业对于检测更多和更小的测试点有较强需求。

在一些检测量大的情况下，由于刚性/柔性板大小可达610x530mm(24×21")，虽然在一次通过中覆盖所有的表面区域是不切实际，但博曼扩展平台选项可通过一次且快速的重新定位完成覆盖任务。

博曼扩展平台选项源于两家不同的PCB企业客户。他们与博曼合作多年，需要400x300mm(16×12")的行程和800x600mm(32×24")的平台。

标准的XY行程为165mmx127mm(6.5x5")，平台尺寸约355mmx330mm(14×13")。新的博曼延伸平台的XY行程为254mmx254mm(10×10")，平台尺寸约660mmx635mm(26X25")。更长的行程潜力和更大的平台为整个微电子领域的品质管控实验室创造了一个且的新动力。这对于任何高产微电子行业的镀层检测有着重大进步。

博曼扩展平台的精度为+3µm。该平台可用于博曼七大产品系列中的P系列，O系列和M系列。这三个系列主要用于线路板和微电子行业的品质管控，以及相关的小部件如连接器。

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