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仪器仪表显微镜数显技术改造

时间:2011-10-24阅读:717
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      工具显微镜可以测量零件的长度、角度、螺纹等诸多几何量参数,是长度计量检测中使用zui多的一种测试仪器,因此广泛应用于机械加工业的各类企业。本文以zui常用的JX7型工具显微镜为例,介绍对工具显微镜的数显技术改造。

一、数显系统的改型

    根据用户多年在设备中应用光栅、磁栅以及球栅数显系统的经验,比较不同数显系统的特点并通过性能和精度检测,选择KG1型高精度光栅数显系统。该系统具有制造精度高、稳定性好、可靠性好以及安装简单、调试方便、对环境要求不高等优点,适合用于万工显的改造。

    根据JX7型万工显的测量范围为纵坐标200mm、横坐标100mm,选用KG1型测量范围250mm和测量范围100mm两根光栅;选用配套的GS-2000型两轴数显表(zui小分辨率为0.2μm),它具有传感器的接口,可与KG1型原装计量传感器进行配套。

二、数显系统的安装

    由于加装数显系统必须在不影响仪器原有光学系统的前提下进行,所以采用图1所示安装方案:将250mm的长磁尺安装在纵向导轨的右侧(左侧是仪器原有的玻璃刻度尺),因安装位置所限右侧须加装一个支承块,用来固定光栅的右端;100mm的光栅安装在横向导轨的上访(图1B处)。按照说明书上的安装技术条件,分别将两个尺子安装基面调整到与纵、横向导轨运动方向(水平方向和垂直方向)平行,其平行度<0.1mm(通常安装时都能方便地调整到0.05mm以内)。

三、数显系统的调试

    纵坐标的调试:取下一起纵向导轨上的玻璃工作台,将一块200mm的3等量块两端分别研上10mm的量块附件,将其安装在纵向导轨刮研基面(见图1量块安置处),使其与光栅尺安装在同一直线上,以减少阿贝误差。该差值若小于3μm则不必修正,若大于3μm时可根据差值的大小通过数显表的误差补偿系统进行线性补偿,可使误差小于规定的数值甚至接近于零。

    以同样的方法用100mm的量块对横坐标进行调试,此不赘述。

四、数显系统的检定

    根据万工显检定规程中的相关规定,需要检定读数装置的示值误差、读数装置的回程误差和示值误差。

    (1)读数装置的示值误差检定

    对数显系统来说,读数装置的示值误差就是数显表的zui小分辨率,即±0.5μm,无须检定。

    (2)读数装置的示值误差的检定(相当于磁栅尺的重复性)

    光栅尺读数装置就其构造和原理来说是没有回程误差的,当然这需要很高的工艺水平做保证。

通过用0.1μm的电感测微仪反复测试,光栅尺读数装置的回程误差zui大不超过0.5μm。

    (3)示值误差的检定(相当于磁栅尺的准确性)

    用检定极限误差不大于0.5μm的玻璃刻度尺作为标准,按照规程规定的条件方法对纵、横向分别进行检定;若没有玻璃刻度尺,可用万工显原有的刻度尺与光栅尺进行比较检定,并用仪器原有的示值误差进行修正,以确定光栅尺各被检点的实际误差,若有超差再用线性补偿系统进行补偿。

五、结语

    通过用数显技术对万工显进行改造,极大地提升了原有仪器的档次,减轻了检验人员的劳动强度特别是保护检验人员的眼睛,同时避免了繁琐的计算,显著提高了测量效率和测量精度。

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