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荧光测厚仪常见覆盖层测量的典型测量范围

阅读:118发布时间:2022-2-7

常见覆盖层测量的典型测量范围

表A.1   常见覆盖层测量的*测量范围

覆盖层

基体

近似厚度范围

μm

in

0~100.0

0~0.004

0~60.0

0~0.0024

0~30.0

0~0.0012

0~30.0

0~0.0012

塑料

0~30.0

0~0.0012

陶瓷

0~8.0

0~0.00032

铜和镍

0~8.0

0~0.00032

铜和镍

0~15.0

0~0.0006

0~30.0

0~0.0012

陶瓷

0~30.0

0~0.0012

0~30.0

0~0.0012

0~30.0

0~0.0012

0~40.0

0~0.0016

-镍合金

0~20.0

0~0.0008

0~7.0

0~0.00028

铜或镍

0~50.0

0~0.0020

铜或镍

0~50.0

0~0.002

0~60.0

0~0.0024

铜或镍

0~60.0

0~0.0024

-铅合金

铜或镍

0~40.0

0~0.0016

0~40.0

0~0.0016

 

1:在整个范围内测量不确定度不是恒定的,而且靠近每个范围两端会增大。

2:所给定的范围是近似的,而且主要取决于可接受的测量不确定度。

3:如果同时测量表层和中间层,由于荧光X射线光束的各种相互作用,即表层会吸收中间层的荧光,那么各覆盖层材料可测厚度范围会发生变化,例如测量在铜上的金和镍时,若金覆盖层厚度超过2.0微米,则无足够的荧光保证镍层高精度测量。

4:当进行厚度大于0微米(如铜或镍上的金:±0.005微米)覆盖层厚度测量过程中,测量不确定度。这就必须了解测量范围的下线。


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