理想IDEALSIGNALTEK（SIGNALTEK-FO，LANTEK PoE，VDV，多媒体线缆测试仪，62-164，音频探针）线缆性能测试仪
技术指标
除了线缆性能测试，SIGNALTEK可配置成一次运行几分钟或几小时进行误码率测试。SIGNALTEK可重点测试临界网络链路，通过在网络中发送上百个千兆比特数据帧，寻找数据包丢失情况，找到其它仪器难于发现的网络间歇问题。采样新一代千兆以太网技术，IDEAL的创新，赋予SIGNALTEK佳性能。
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接口
－USB接口 A/B型，直流电源接口
－屏蔽型RJ-45接口：支持10/100/1000Mbps以太网连接
－SFP接口：支持SFP型激光模块，850nm及1300nm波长，1000Mbps以太网
SFP-850nm激光模块
－Class1激光，符合EN60825-1规定
－兼容光纤类型：50/125μm、62.5/125μm多模光纤
－输出功率（dBm）：小-9.5，大-3
－接收功率范围（dBm）：0～-20
－大链路长度：50/125μm光纤：550m、62.5/125μm光纤：300m
－使用温度：-10~80℃，相对湿度85％
SFP-13X0nm激光模块
－Class1激光，符合EN60825-1规定
－兼容光纤类型：50/125μm、62.5/125μm多模光纤，9/125μm单模光纤
－输出功率（dBm）：小-9，大-2.5
－接收功率范围（dBm）：0～-22
－大链路长度：50/125μm光纤：550m
62.5/125μm光纤：300m
9/125μm单模光纤：10km
－使用温度：-10~80℃，相对湿度85％
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SIGNALTEK线缆性能测试仪产品特点
光纤与铜缆千兆性能测试－按IEEE 802.3标准，对光纤与铜缆链路进行测试
·多媒体千兆性能测试－测试VoIP、视频、网页浏览等业务在光纤上的应用
·误码率BERT及光衰减测试－对光链路进行比特错误率测试，并测量光功率衰减值
·双波长测量－支持使用850nm和1300nm波长的所有局域网光链路测试应用
·使用小型可插拔光模块（SFP）－小巧、现场可更换
·存储数千条测试报告－使用内存或U盘存储测试报告以供打印。
长度测量
－RJ-45接口：TDR长度测量1－4对铜缆：140m
－SFP接口：不能测量光纤长度
误码率测试
－铜缆：按IEEE802.3ab标准测试10/100/1000Mbps误码率
－光纤：按IEEE802.3ab标准测试1000Mbps误码率
电池寿命：（标准碱性电池）
－铜缆测试：约15小时（22个测试/小时，45s/自动测试）
－光纤测试：建议使用交流电源供电
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SIGNALTEKTM-FO标准附件
- 主机与远端机
- 便携包
- 铜缆测试附件包，含：接头为RJ-45、RJ-11、同轴电缆F型端子和鳄鱼夹的测试线
- 光纤测试附件包，含：2条双向LC-SC 50/125μm 2m光纤跳线，2条双向LC-SC 62.5/125μm 2m光纤跳线，1个双向SC-SC适配器
- 8节5号电池
- 2个交流电源适配器
- USB通信线
- 1张用户手册CD盘
- 1张DVD培训盘
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| 部件描述 | 型号 |
| SIGNALTEKTM-FO 配2个850nm模块 | 33－984 |
| SIGNALTEKTM-FO 配2个13X0nm模块 | 33－985 |
| SIGNALTEKTM-FO 配850nm及13X0nm模块 | 33－986 |
| SIGNALTEKTM-FO 有接口但不配光模块 | 33－988 |
| 1对850nmSFP模块 | SFP－850 |
| 1对13X0nmSFP模块 | SFP－13X0 |
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