西安谊邦电子科技有限公司
YB6200/YB6500半导体测试系统是专为测试半导体分立器件和测试大功率半导体模块器件而研发设计。它具有十分丰富的编程软件和强大的测试能力,能够真实准确测试大中小半导体分立器件以及相关器件组成的组合器件、器件阵列:
YB580-X 绝缘栅双极晶体管(IGBT)测试仪是YB6500半导体测试仪的选件,是将C-E极间电流放大,可提供 500A, 1000A和1250A的C-E极电流。
测试参数名称 | 电压范围 | 电流范围 | 分辨率 | 精度 |
ICES IGESF IGESR | 0.10V-2kV 0.10V-20V | 1nA(10pA)(1)-50mA 1nA(10pA)(1)-3A | 1nA(1pA) (1) | 1%+4nA+10pA/V (1%+200pA+2pA/V)(1) |
BVCES | 0.1V-900V -1.4KV -1.6KV | 100nA-200mA -100mA -50mA | 1mV | 1%+100mV |
VGETH | 0.10V-20V(50V) (2) | 1nA-3A | 1mV | 1%+10mV |
VCESAT ICON VGEON VF gFS (混合参数) | VCE: 0.10V - 5.00V - 9.99V VGE: 0.10V - 9.99V | IC:10mA-1250A -200A IF, IGE: 1nA-10A | 1mV | V: 1%+10mV IF IC: 1%+1nA IGE: 1%+5nA |
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