每个厚度测量仪器都有一个临界厚度，如果厚度大于这个厚度，则测量不受母材厚度的影响；它对试件表面形状的突变很敏感，因此在试件边缘或内角附近测量是不可靠的。试件的曲率对测量有影响。随着曲率半径的减小，它会显着增加。因此，在弯曲试件表面的测量也是不可靠的。那么什么原因会造成一六测厚仪测量数据不准？
1、母材和镀层的表面粗糙度对测量有影响。粗糙度增大，影响增大，表面粗糙会造成系统误差和偶然误差。在每次测量中，应增加不同位置的测量次数，以克服这种偶然误差。如果基体上的母材粗糙，还必须在未镀膜的基体金属试片上取几个粗糙度相近的位置校准仪器的零点，或使用不腐蚀母材的溶液溶解去除校准仪器前的涂层；
2、周围各种电气设备产生的强磁场会严重干扰一六测厚仪的磁性测厚；
3、探头会使软涂层试样变形，因此无法测量这些试样的可靠数据；
4、必须清除阻碍探头与涂层表面紧密接触的粘着物质。测量过程中，压力必须保持恒定，探头与试样表面必须保持垂直，以实现准确测量。
5、磁法测得的厚度受基体金属度变化的影响（实际应用中低碳钢的磁性能变化可以认为是轻微的）。为避免热处理和冷加工因素的影响，应使用与试件基材相同的金属特性的标准板校准仪器；
6、母材的电导率对测量有影响，母材的电导率与其材料成分和热处理方法有关。应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对一六测厚仪进行校准。
