深圳真尚有科技有限公司
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二维测厚系统是通过使用两个激光二维传感器头对射的方法来进行测厚，采样区域是一段面区域，同时它还可以在扫描测厚过程中还原被测体的表面轮廓细节。
Z轴量程最小5mm，1400mm；
Z轴5um精度；
X轴量程最小6mm，980mm；
可按用户要求定制；
无需控制器，直接网口输出(也可选模拟输出)；
测量不受色彩、表面材质或离散光线所影响；
有同步输入端，可使多个传感器同步工作；
传感器提供了DLL库，便于开发人员开发应用程序；
保护等级IP67；
带雕刻花纹的木板、有槽或突起的铝合金板等物体。
型号 | 二维测厚系统 |
Z轴量程mm | 3~300 |
X轴量程mm | 6~240 |
Z轴线性度% | 0.1 |
X轴线性度% | 0.2 |
测量频率Hz | 6510 |
测量距离mm | 12~500 |
◆其他量程可根据具体要求订制。
◆我们保留规格变化而不另行通知的权利。
利用两个激光传感器的对射方式进行厚度测量，将传感器固定在稳定的支架上，确保两个传感器的激光能再同一点上。
假设
A：是上面激光传感器到被测物的距离。
B：是下面激光传感器到被测物的距离。
C：是两个激光传感器的距离。
被测物的厚度H=C-(A+B)
ZLDS200传感器的工作原理是基于光学三角测量原理。
半导体激光发生器①发出的光，经透镜②形成X平面光幕，并在物体⑦上形成一条轮廓线③，镜片④收集被物体反射回来的光并将其投影到一个二维CMOS阵列⑤,这样形成的目标物体剖面图形被信号处理器⑥分析处理，轮廓线的长度用X轴计量，轮廓线的高低用Z轴计量。
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