北京冠测精电仪器设备有限公司
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低频介电常数测试仪

参   考   价: 16500

订  货  量: ≥1 台

具体成交价以合同协议为准

产品型号GCSTD-DII

品       牌冠测仪器

厂商性质生产商

所  在  地北京市

更新时间:2024-01-10 12:27:07浏览次数:891次

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产地 国产 加工定制
测试参数? C,?L,?R,Z,Y,X,B,?G,?D,?Q,?θ,DCR? 测试频率? 20?Hz~5MHz,10mHz步进?
测试信号电? f≤1MHz? 输出阻抗? 10Ω,?30Ω,?50Ω,?100Ω?
低频介电常数测试仪
接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料
电极类型:固定电极-测量电极φ38mm
测试频率:20HZ-5MHZ
测试电极:黄铜电极
测试环境:室温

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低频介电常数测试仪

GCSTD-DII

一、满足标准:

GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频(包括米波波长在内)下电容率和介质损耗因数的推荐方法

GB/T1693-2007 硫化橡胶 介电常数和介质损耗角正切值的测定方法

ASTM D150/IEC 60250固体电绝缘材料的(恒久电介质)的交流损耗特性和介电常数的测试方法

二、低频介电常数测试仪技术要求:

接触法:适用于厚度均匀、上下表面平整、光滑材料

电极类型:固定电极-测量电极φ38mm

测试频率:20HZ-5MHZ

测试电极:黄铜电极

测试环境:室温

三、软件功能:

* 1、测试频率可以扫描进行测试

*2、测试频率可以单点测试

*3、测试频率可以多频设置测试

4、测试速度模式:快速、中速、慢速

5、测试数据与曲线显示:

*6、电阻率—测试频率

*7、绝对介电常数--测试频率

*8、相对介电常数--测试频率

*9、相对介电常数虚部--测试频率

*10、相对介电常数实部--测试频率

*11、介质损耗--测试频率

*12、电容值--测试频率


四 、测试电桥参数

测试参数 C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR


测试频率 20 Hz~5MHz,10mHz步进


测试信号电 f≤1MHz 10mV~5V,±(10%+10mV)


平 f>1MHz 10mV~1V,±(20%+10mV)


输出阻抗 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω


基本准确度 0.1%

0.0001 uH ~ 9.9999kH

0.0001 pF ~ 9.9999F

R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ~ 99.999 MΩ


显示范围 Y, B, G 0.0001 nS ~ 99.999 S

0.0001 ~ 9.9999

0.0001 ~ 99999

θ -179.99°~ 179.99°


测量速度 快速: 200次/s(f﹥30kHz) ,100次/s(f﹥1kHz)

中速: 25次/s, 慢速: 5次/s

校准功能 开路 / 短路点频、扫频清零,负载校准

等效方式 串联方式, 并联方式

量程方式 自动, 保持

显示方式 直读, Δ, Δ%

触发方式 内部, 手动, 外部, 总线

内部直流偏 电压模式 -5V ~ +5V, ±(10%+10mV), 1mV步进

置源 电流模式(内阻为50Ω) -100mA ~ +100mA, ±(10%+0.2mA),20uA步进

比较器功能 10档分选及计数功能

显示器 320×240点阵图形LCD显示

存储器 可保存20组仪器设定值

USB DEVICE( USBTMC and USBCDC support)

USB HOST(FAT16 and FAT32 support)

接口 LAN(LXI class C support)

RS232C

HANDLER

GPIB(选件)






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