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欢迎参加泰克公司举办TDR阻抗/传输损耗测量技术研讨会

时间:2013-4-24阅读:2407
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  欢迎参加泰克公司举办TDR阻抗/传输损耗测量技术研讨会
  
  欢迎参加泰克公司和捷泰科技联合举办的TDR阻抗/传输损耗测量技术研讨会
  
    
   
  TDR时域反射是一种通用的阻抗测量技术,广泛应用于PCB、电缆、连接器等领域。随着计算机和通信系统的串行总线速度显著提高,对PCB走线要求越来越高。如何验证PCB走线的特征阻抗和传输损耗是否达到设计要求成为了PCB生产商以及高速数字电路设计人员必须关注的问题。
  
  本次研讨会将向您介绍
  
  TDR阻抗/传输损耗测量的原理和解决方案
  
  IConnect?软件使用阻抗去卷积(Z-Line)算法,地处理TDR阻抗测量中的多重反射现象,提高了阻抗测量精度和分辨率;改善测量项目之间的数据相关性。
  
  IConnect?软件对各种互连执行单端、差分和混合模式S参数测量(插入损耗、回波损耗和频域串扰);模拟眼图测试;针对PCB印刷电路板、柔性电路板、连接器、电缆、封装和插座等建立SPICE和IBIS模型。
  
  InSET2DIL测试要求和实现。
  
  ESD/EOS静电防护知识。
  
  此外,泰克公司日前推出的黄金保障计划(GoldCarePlans):
  
  针对中测试仪器,为客户提供没有后顾之忧的购机体验(保修范围涵盖EOS/ESD损坏)。针对这个黄金保障计划,泰克专家将就这个维修计划,为大家进行现场讲解。
  
  黄金保障计划核心服务内容
  
  涵盖EOS/ESD
  
  优先处理所有故障产品
  
  预约的厂家校准
  
  优先获得泰克和客户服务中心接入
  
  长达5年的不间断保险服务,并可以自动续约
  
  泰克科技采样示波器DSA8200和IConnect?软件为根据测量结果评估千兆位互连链接和设备性能提供了、简便易用、经济的解决方案.
  
  (与类似带宽的网络分析仪VNA相比,成本节约可达50%),具有阻抗、S参数、眼图测试和问题隔离等信号完整性分析功能,登录泰克了解更多.
 

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