可靠性标准列表

可靠性、维修性相关的国
GJB 368.1-87 装备维修性通用规范 维修性管理大纲
GJB 368.2-87 装备维修性通用规范 维修性的基本要求
GJB 368.3-87 装备维修性通用规范 常用件应用的维修性要求
GJB 368.4-87 装备维修性通用规范 维修性的分配和预计
GJB 368.5-87 装备维修性通用规范 维修性的试验与评审
GJB 368.6-87 装备维修性通用规范 维修保障分系统的建立
GJB 368A-1994 装备维修性通用大纲
GJB 451-1990 可靠性维修性术语
GJB 450A-2004 装备可靠性工作通用要求 替代：GJB 450-1988
GJB 546-1988 电子元器件可靠性保证大纲
GJB 3404-98 电子元器件选用管理要求
GJB 645-1988 军用光学仪器维修性规范
GJB 813-1990 可靠性模型的建立和可靠性预计
GJB 841-1990 故障报告、分析和纠正措施系统
GJB 899-1990 可靠性鉴定和验收试验
GJB 899-1990 修改单1-97可靠性鉴定和验收试验
GJB 1378-1992 装备预防性维修大纲的制订要求与方注
GJB 1391-1992 故障模式、影响及危害性分析程序
GJB 1407-1992 可靠性增长试验
GJB 1909.1-1994 装备可靠性维修性参数选择和指标确定要求 总则
GJB 1909.4-1994 装备可靠性维修性参数选择和指标确定要求 卫星
GJB 1909.5-1994 装备可靠性维修性参数选择和指标确定要求 军用飞机
GJB 1909.6-1994 装备可靠性维修性参数选择和指标确定要求 舰船
GJB 1909.7-1994 装备可靠性维修性参数选择和指标确定要求 装甲车辆和军用汽车
GJB 1909.10-1998 装备可靠性维修性参数选择和指标确定要求 电子系统
GJB 1371-92 装备保障性分析
GJB 2072-1994 维修性试验与评定
GJB／Z 23-1992 可靠性和维修性工程报告编写的一般要求
GJB／Z 27-1992 电子设备可靠性热设计手册
GJB／Z 34-1993 电子产品定量环境应力筛选指南
GJB／Z 35-1993 元器件降额准则
GJB／Z 57-1994 维修性分配与预计手册
GJB／Z 69-1994 军用标准的选用和裁减导则
GJB／Z 72-1995 可靠性维修性评审指南
GJB／Z 91-1997 维修性设计技术手册
GJB/Z 299B-98 电子设备可靠性预计手册
GJB 900-90 系统安全性通用大纲
GJB 841-90 故障报告、分析和纠正措施系统
GJB 4355-2002 备件供应规划要求
GJB 1364-1992 装备费用效能分析
GJB 1686-93 装备质量与可靠性信息管理要求
GJB 1775-93 装备质量与可靠性信息分类和编码通用要求
GJB 150 《军用装备实验室环境试验方法》分为28个部分：
a） 第1部分：通用要求；
b） 第2部分：低气压（高度）试验；
c） 第3部分：高温试验；
d） 第4部分：低温试验；
e） 第5部分：温度冲击试验；
f） 第6部分：温度－高度试验 ；
g） 第7部分：太阳辐射试验；
h） 第8部分：淋雨试验；
i） 第9部分：湿热试验；
j） 第10部分：霉菌试验；
k） 第11部分：盐雾试验；
l） 第12部分：砂尘试验；
m） 第13部分：爆炸性大气试验；
n） 第14部分：浸渍试验；
o） 第15部分：加速度试验；
p） 第16部分：振动试验；
q） 第17部分：噪声试验；
r） 第18部分：冲击试验；
s） 第19部分：温度－湿度－高度试验
t） 第20部分：炮击振动试验.
u） 第21部分：风压试验；
v） 第22部分：积冰/冻雨试验；
w） 第23部分：倾斜和摇摆试验；
x） 第24部分：温度-湿度-振动-高度试验；
y） 第25部分：振动-噪声-温度试验；

中国可靠性国家标准
GB/T 15174-1994 可靠性增长大纲　
GB/T 7289-1987 可靠性、维修性与有效性预计报告编写指南　
GB/T 3187-1994 可靠性、维修性术语　 　 　
GB/T 7826-1987 系统可靠性分析技术 失效模式和效应分析（FMEA）程序　
GB/T 7827-1987 可靠性预计程序　
GB/T 7828-1987 可靠性设计评审　
GB/T 7829-1987 故障树分析程序　 　 　
GB/T 4888-1985 故障树名词术语和符号　 　 　
GB/T 5329-1985 试验筛与筛分试验 术语　
GB 4793.1-1995 测量、控制和试验室用电气设备的安全要求 第1部分: 通用要求　
GB/T 2689.1-1981 恒定应力寿命试验和加速寿命试验方法总则　
GB/T 2689.2-1981 寿命试验和加速寿命试验的图估计法 （用于威布尔分布）　
GB/T 2689.3-1981 寿命试验和加速寿命试验的简单线性无偏估计法 （用于威布尔分布）　
GB/T 2689.4-1981 寿命试验和加速寿命试验的线性无偏估计法 （用于威布尔分布）　 GB/T 4677.14-1988 印制板蒸汽-氧气加速老化试验方法　
GB/T 9586-1988 荧光数码显示管加速寿命试验方法　
GB/T 5170.1-1995 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 总则　
GB/T 5170.2-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 温度试验设备　
GB/T 5170.5-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 湿热试验设备　
GB/T 5170.8-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 盐雾试验设备　
GB/T 5170.9-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 太阳辐射试验设备　 GB/T 5170.10-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 高低温低气压试验设备　 GB/T 5170.11-1996 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 腐蚀气体试验设备　 GB 5170.13-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 振动 （正弦） 试验用机械振动台GB 5170.14-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 振动 （正弦） 试验用电动振动台　
GB 5170.15-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 振动 （正弦） 试验用液压振动台　
GB 5170.16-1985 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 恒加速度试验用离心式试验机　
GB 5170.17-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 低温/低气压/湿热综合顺序试验设
GB 5170.18-1987 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 温度/ 湿度组合循环试验设备　
GB 5170.19-1989 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 温度/ 振动 （正弦） 综合试验设备
GB 5170.20-1990 电工电子产品环境试验设备基本参数检定方法 水试验设备　
GB 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验 A: 低温试验方法　
GB 2423.16-1990 电工电子产品基本环境试验规程 试验J:长霉试验方法　
GB 2423.18-1985 电工电子产品基本环境试验规程 试验Kb: 交变盐雾试验方法 （氯化钠溶液）　
GB 2423.19-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验Kc: 接触点和连接件的二氧化硫试验方法　
GB 2423.20-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验Kd: 接触点和连接件的硫化氢试验方法　
GB 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程 试验 M: 低气压试验方法　
GB 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验 B: 高温试验方法　
GB 2423.22-1987 电工电子产品基本环境试验规程 试验N:温度变化试验方法　
GB 2423.27-1981 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AMD:低温/ 低气压 /湿热连续综合试验方
GB 2423.28-1982 电工电子产品基本环境试验规程 试验T:锡焊试验方法　
GB 2423.29-1982 电工电子产品基本环境试验规程 试验U:引出端及整体安装强度　
GB 2423.30-1982 电工电子产品基本环境试验规程 试验XA: 在清洗剂中浸渍　
GB 2423.31-1985 电工电子产品基本环境试验规程 倾斜和摇摆试验方法　
GB 2423.32-1985 电工电子产品基本环境试验规程 润湿称量法可焊性试验方法　
GB 2423.33-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验Kca:高浓度二氧化硫试验方法　 GB 2423.34-1986 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AD: 温度/ 湿度组合循环试验方法　
GB 2423.35-1986 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/ 振动（
GB 2423.36-1986 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/BFc:散热和非散热样品的高温/ 振动（正弦
GB 2423.37-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验 L: 砂尘试验方法　
GB 2423.38-1990 电工电子产品基本环境试验规程 试验 R: 水试验方法　
GB 2423.39-1990 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ee: 弹跳试验方法　
GB 2423.9-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验Cb: 设备用恒定湿热试验方法　 GB/T 2423.10-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Fc和导则: 振动（正弦）　
GB/T 2423.11-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fd: 宽频带随机振动 一般要求　
GB/T 2423.12-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fda: 宽频带随机振动 高再现性
GB/T 2423.13-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fdb: 宽频带随机振动 中再现性
GB/T 2423.14-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fdc: 宽频带随机振动 低再现性
GB/T 2423.15-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Ga和导则: 稳态加速度GB/T 2423.17-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ka: 盐雾试验方法　
GB/T 2423.23-1995 电工电子产品环境试验 试验Q:密封　
GB/T 2423.24-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Sa: 模拟地面上的太阳辐射　
GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM: 低温／低气压综合试验　 GB/T 2423.26-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/BM: 高温／低气压综合试验　 GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca:恒定湿热试验方法　
GB/T 2423.40-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热　
GB/T 2423.41-1994 电工电子产品基本环境试验规程 风压试验方法　
GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Db: 交变湿热试验方法　
GB/T 2423.42-1995 电工电子产品环境试验 低温/低气压/振动（正弦）综合试验方法　
GB/T 2423.43-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 元件、设备和其他产品在冲击（Ea）
GB/T 2423.44-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Eg: 撞击 弹簧锤　 GB/T 2423.45-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/ABDM：气候顺序　 GB/T 2423.46-1997 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ef：撞击 摆锤　 GB/T 2423.47-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fg: 声振　
GB/T 2423.48-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Ff: 振动—时间历程法GB/T 2423.49-1997 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fe: 振动—正弦拍频法GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 试验Ea和导则: 冲击　 GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Eb和导则： 碰撞　 GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Ec和导则: 倾跌与翻倒 （主要用
GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Ed: 自由跌落　 仪器卷
GB/T 2423.18-2000 电工电子产品环境试验 第2部分：试验 试验Kb：盐雾，交变（氯化钠溶液）　
GB/T 2423.25-1992 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z/AM: 低温／低气压综合试验　 GB/T 2423.51-2000 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Ke：流动混合气体腐蚀试验　 开关电器、旋转电机、电线电缆卷
GB/T 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验 A: 低温试验方法　
GB/T 2423.16-1999 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验J和导则：长霉　 GB/T 2423.2-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验 B: 高温试验方法　
GB/T 2423.29-1999 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验U:引出端及整体安装件强度　
GB/T 2423.30-1999 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验XA和导则:在清洗剂中浸渍　
GB/T 2423.3-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Ca:恒定湿热试验方法　
GB/T 2423.4-1993 电工电子产品基本环境试验规程 试验Db: 交变湿热试验方法　
GB/T 2423.50-1999 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Cy:恒定湿热主要用于元件的加
GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第二部分：试验方法 试验Ea和导则: 冲击　 GB/T 2423.6-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Eb和导则： 碰撞　 GB/T 2423.7-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Ec和导则: 倾跌与翻倒 （主要用
GB/T 2423.8-1995 电工电子产品环境试验 第二部分: 试验方法 试验Ed: 自由跌落

美 Name
Description

Mil-Hdbk-108
Sampling Procedures and Tables for Life and Reliability Testing （Based on Exponential Distribution） - 29 April 1960

Mil-Hdbk-109
Statistical Procedures for Determining Validity of Suppliers' Attributes Inspection - 6 May 1960

Mil-Hdbk-189
Reliability Growth Management - 13 February 1981

Mil-Hdbk-217F（1）
Reliability Prediction of Electronic Equipment - Notice 1 - 10 July 1992

Mil-Hdbk-217F（2）
Reliability Prediction of Electronic Equipment - Notice 2 - 28 February 1995

Mil-Hdbk-217F
Reliability Prediction of Electronic Equipment - Revision F - 2 December 1991

Mil-Hdbk-338B
Electronic Reliability Design Handbook - Revision B - 1 October 1998

Mil-Hdbk-470A
Designing and Developing Maintainable Products and Systems - Revision A - 4 August 1997

Mil-Hdbk-781A
Handbook for Reliability Test Methods, Plans, and Environments for Engineering, Development, Qualification, and Production - Revision A - 1 April 1996

Mil-Std-1344A（1）
Test Methods for Electrical Connectors - Notice 1 - 10 September 1980

Mil-Std-1344A（2）
Test Methods for Electrical Connectors - Notice 2 - 14 August 1981

Mil-Std-1344A（3）
Test Methods for Electrical Connectors - Notice 3 - 4 April 1983

Mil-Std-1344A（4）
Test Methods for Electrical Connectors - Notice 4 - 14 June 1985

Mil-Std-1344A（5）
Test Methods for Electrical Connectors - Notice 5 - 15 September 1993

Mil-Std-1344A
Test Methods for Electrical Connectors - 1 September 1977

Mil-Std-1629A（1）
Procedures for Performing a Failure Mode Effects and Criticality Analysis - Notice 1 - 7 June 1983

Mil-Std-1629A（2）
Procedures for Performing a Failure Mode Effects and Criticality Analysis - Notice 2 - 28 November 1984

Mil-Std-1629A（3）
Procedures for Performing a Failure Mode Effects and Criticality Analysis - Notice 3 - 4 August 1998

Mil-Std-1629A
Procedures for Performing a Failure Mode Effects and Criticality Analysis



Number
Revision
Title

MIL-HDBK-5H
-
Notice 1

Metallic Materials and Elements（The original issue is 20 MB; Notice 1 is 42MB

MIL-HDBK-17
  Composite Materials Handbook

Volume 1
F
Polymer Matrix/Guidelines for Characterization

Volume 2
F
Polymer Matrix/Materials Propoerties

Volume 3
F
Polymer Matrix/Materials Usage, Design and Analysis

Volume 4
F
Metal Matrix Composites

Volume 5
-
Ceramic Matrix Composites

MIL-PRF-13830
B
Optical Component Inspection

MIL-PRF-31032
-
Printed Circuit Board, General Spec.

MIL-STD-202
G
Test Method Standad, Electronic Parts

MIL-STD-461
E
Control of Electromagnetic Interference

Draft
=
Comparison of 461E with other standards

MIL-STD-750
D

Notice 1

Notice 2

Notice 3

Notice 4

Notice 5

Test Method, Semiconductor Devices

MIL-STD-810
F
Test Method Standard/Env. Eng. Tests

MIL-STD-883
E

Notice 1

Notice 2

Notice 3

Notice 4

Notice 5

Test Method Standard/Microcircuits

MIL-STD-1246
C

Notice 1

Notice 2

Notice 3

Notice 4

Notice 5

Cleanliness Levels