贵金属检测仪型号:TC-X-3680
产品型号:TCX-3680
贵金属检测仪
产品详情:
TCX-3680是一种体现X射线荧光分析技术进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。
仪器检测能力强,分辨率高,于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al(13号元素)到U(92号元素)。无损分析迅速,无需制样,测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM级别到千分之一级别。
强势功能
1. 基本参数法对从铝(13号元素)至铀(92号元素)定性分析测量。
2.包裹样品检测辨别系统。
3.样品室高清成像定位系统,方便微小样品定位测量。
4.电制冷与内部双向循环冷却恒温系统相结合,维持内部工作环境稳定。
5. 内部动力学风道设计,快速排出多余热量。
6.双峰位快速自动校准。
7.双箱体结构,抗干扰能力强且方便硬件升级。
8.仪器工作方法任意开发。
9. 定量分析:包括经验系数法,理论a系数法和基本参数法。
10.定性分析:包括Kl谱线标记法,谱图比较法,光标自动寻峰等。
11.测试报表根据客户要求独立设计。
12.温度系数:温度变化1度,电压变化不超过0.01%
13.稳定性:经过半个小时预热后,每8小时变化不超过0.05%
14.准直器:使用特殊的滤波片自动更换,提高高能区的峰背比。
15.彩色液晶显示屏
16.自主研发的多功能数字集成新型放大器,提高降噪比。
整机技术规格
1.外型尺寸:600mm×530mm×330mm
2. 可测试样品大小:关仓测量:220mm×200mm×150mm
开仓测量:无限大
3. 仪器重量:50公斤
4.工作环境温度:0——35℃
5. 工作环境相对湿度:≤80%
6. 元素分析范围:铝(Al)——铀(U)
7. 含量分析范围:1PPM——99.999%
8.测量时间:10——180秒可调
9. 激发源:低功率X射线管
10.电源:美国Spellman*电源
11.探测器:美国Amptek*电制冷Si-Pin半导体探测器
12. 仪器分辨率:55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线,分辨率优于149eV
13.多道分析器:2048道
14.软件:基于WINDOWS的强大工作软件
15. 客户可进行二次开发,自行开发任意多个分析方法
16.工作电源:交流 220V 50Hz
手持超声波物位仪/便携式超声波液位计型号:CSB-MHFX
产品简介
本品是我司积多年生产经验,吸取了多种同类产品优点,而开发的一款方便的分体式超声波物位仪表,解决了在恶劣环境一体机电路容易出现故障的后顾之忧。具有测量精确、工作可靠、外观大方等优点。采用大规模集成电路,元件贴片率达90%,保证了产品的长期可靠性。同时将其功耗降到了极低。采用大屏幕显示全中文菜单容易上手,支持SD卡数据采集和串口数据下载。可记录十个干扰回波点。
应用领域
☆ 水及污水处理
泵房、集水井、生化反应池、沉淀池等
☆ 电力、矿山
灰浆池、煤浆池、黄油储罐、堆料场或部分移动设备控制等
☆ 食品工业
酒厂、粮仓、食品材料装盛槽罐等
☆控制系统配套使用
性能指标
量程:0~30m(定货时选购)
盲区:<0.3-1.5 m
发射角: 12°
精度:±0.3%×量程
小显示分辨率:1MM
温度补偿:自动温度补偿
工作频率:20 KHz~200KHz(因型号规格而不同)
现场设置:通过本机按键完成
标定:出厂标定,可现场校准
显示:1.8英寸中文 LCD
键 盘:4位贴片式按键
可中英文自动切换
输出
输出信号:4~20mA RL>300Ω(0~20mA\1~5V\0~5V);
2路继电器;3路NPN;RS485;
供电
工作电压:AC220V或DC12-24V
功耗:<1.5W
物理性能
外形尺寸:
主机:92mm×197mm×46mm
常规探头:Φ60mm×120mm× G1 1/2(因型号规格而不同)
探头线长:5m(可定制任意长度)
安装方式:
主机:52mm×102mm×Φ7mm壁挂式
常规探头:G1 1/2管螺纹(配锣环)(因型号规格而不同)
防护等级:主机IP55 探头IP65(可选其他防护等级)