温度冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经高温、低温的连续环境下所能忍受的程度，适用于科研、学校、工厂等单位用于电工、电子产品、液晶显示屏、半导体、电子线路板、金属材料、轴承等各种材料在温度急剧变化环境下的适应性试验。
1、温度冲击试验箱试验目的：确定测试产品在周围大气温度急剧变化时的适应性及被破坏性。
2、试验条件：高温箱：RT～150℃，低温箱：RT～-40℃，试验温度保持时间：1h或者直至试验样品达到温度稳定，以时间长者为准,循环次数：针对各个不同行业不同厂家所对应的试验要求不一样，按照标准上的试验方法测试。
3、恢复：测试产品从冷热冲击箱内取出后，应在正常的试验大气条件下进行恢复，直至试验样品达到温度稳定。
4、对温度冲击试验箱的要求：
a.采用高温箱和低温箱进行冷热冲击试验,以提供试验样品经受周围空气温度急剧发生变化的环境温度。
b.高温区的要求,应符合GJB150.3-86《设备环境试验方法高温试验》的第3章各条所规定的要求。
c.低温区的要求，应符合GJB150.4-86《设备环境试验方法低温试验》的第3章各条所规定的要求。
d.温度冲击试验箱提供高温试验部分和低温试验部分,应分别符合GJB150.3-86和GJB150.4-86的第3章各条所规定的要求。
e.试验箱的容积应保证在试验样品放入候补超过试验温度保持时间的10%就能使试验箱(室)温度达到GJB150.1-89中3.2条规定的试验条件容差范围之内。
5、参照满足标准：
GB10592-89高低温箱技术条件；
GB10586-93湿热试验箱技术条件；
《GB2423.1-89电工电子产品基本环境试验规程》：低温试验方法；
《GB2423.2-89电工电子产品基本环境试验规程》：高温试验方法；
《GB/T2423.4-93电工电子产品基本环境试验规程》：交变湿热试验方法；
《GB/T2423.3-93电工电子产品基本环境试验规程》：恒定湿热试验方法。
6、控制系统:
低温区、高温区转换时间≤10s。
温度恢复时间≤5min。
