射频导纳物位控制器它采用导纳测量法

     射频导纳物位控制器结构及工作原理

   射频导纳物位控制器是对传统的电容式测量技术较大改进；是在吸取国外同类产品的*技术、功能、优点的基础上而设计生产的一种新物位测量仪表。其高可靠性能的传感器和*稳定的电路模块全部选用的进口器件。它采用导纳测量法将被测介质的阻抗和容抗信号综合在一起，提高了*测量的可靠性、稳定性、灵敏度和精度，几乎能测量所有介质的物位，而不受传感器探头上挂料、温度、介质密度的变化而影响。

射频导纳物位控制器结构及工作原理;

二线制射频导纳物位变送器利用电容的变化来测量贮罐内的料位，它是一种而独立的过程测量仪表。变送器随着贮罐内料位的变化，电极与罐壁之间的电容量也随之变化。

射频导纳物位控制器主要技术参数;

工作电源：24VDC

输出信号：4~20mADC

负载电阻：＞300Ω

响应时间：20mS

相对温度：≤85％

防爆等级：ExdiaIIBT4

防护等级：IP65

电缆的电感、电容：≤2mH，0.8μF

安装方式：顶装、侧装

连接方式：3/4″NPT， 3/4″管螺纹， 1–1/4″管螺纹， 法兰（可选）

接液材质：316不锈钢，陶瓷，1Cr18Ni9Ti，四氟乙烯，高温塑料

环境温度：-40℃~75℃

介质温度：-180℃~+500℃