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SM-114日本得乐测厚规

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  • 上海源琦检测仪器有限公司
  • 2021-09-15 10:06:50
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【简单介绍】

产品名称:SM-114日本得乐测厚规 产品特点:SM-114测厚规品牌:TECLOCK(日本得乐) 用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量,加长型测臂具有更大的测量深度。 测量范围:0-10mm Z小读数:0.01mm 测量深度:120mm

【详细说明】

SM-114日本得乐测厚规的详细资料:

SM-114测厚规
品牌:TECLOCK(日本得乐)
用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量,加长型测臂具有更大的测量深度。
测量范围:0-10mm
zui小读数:0.01mm
测量深度:120mm
原理:在一定的面积与一定荷重下,测量出的物件厚度。指针式测厚规可以作为物品检测时的基础测量。
技术参数:
指式方式:指针式
测量范围:0-10mm
zui小读数:0.01mm
测量深度:120mm
体积大小:(W*D*H)190*23*145mm
重量:250g
测厚仪系列:
英国牛津 CMI 233测厚仪
英国牛津 CMI153 便携式涂镀层测厚仪
北京时代TT210数字式涂层测厚仪
北京时代TT220数字式涂层测厚仪
TT230数字式涂层测厚仪
日本得乐测厚规
国产测厚规
国产数显测厚规
:李
/
litianbao320

    
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