介电常数介质损耗测试仪的特点

1 特点：                            
◎ 本公司创新的自动Q值保持技术，使测Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能对固体绝缘材料在10kHz～120MHz介质损耗角（tanδ）和介电常数（ε）变化的测试。

◎ 调谐回路残余电感值低至8nH，保证100MHz的（tanδ）和（ε）的误差较小。

◎ 特制LCD屏菜单式显示多参数：Q值，测试频率，调谐状态等。

◎ Q值量程自动/手动量程控制。

◎ DPLL合成发生1kHz～70MHz（WY2852D）, 50kHz～160MHz（WY2853D）测试信号。独立信号   源输出口，所以本机又是一台合成信号源。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

 介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

 GDAT-C介电常数和介质损耗测试仪工作频率范围是10kHz～160MHz,它能完成工作频率内材料的高频介质损耗角（tanδ）和介电常数（ε）变化的测试。

  本仪器中测试装置是由平板电容器和测微圆筒线性电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用Q表作为指示仪器。绝缘材料的损耗角正切值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的Q值变化和厚度的刻度读数通过公式计算得到。同样，由测微圆筒线性电容器的电容量读数变化，通过公式计算得到介电常数。

2 主要技术指标：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围：

      tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：

      tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

    资料整理-北京北广精仪仪器设备有限公司

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