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在铁矿生产中,矿石的品位是一项重要的质量参数,关乎到生产过程调整,质量把控等一系列调整控制。目前市场广泛成熟应用的矿石品位分析技术有XRF(X射线荧光分析技术), PGNAA(瞬发γ中子活化技术)和NIR近红外分析技术,并作简要如下技术对比分析:
XRF是经传统离线方式的取样、制样、熔片等后采用X射线放射源对矿石近表层基于元素的测量。测量精度好,广泛应用于铁矿工艺甚至整个矿业行业,但存在过程复杂冗长,受取样代表性等因素影响,导致过程控制频繁调整,波动且滞后,不利于生产的连续稳定控制。
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详细技术对比如下:
相比XRF和PGNAA,NIR具有以下优势:
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