提供商
东莞市科文试验设备有限公司资料大小
124.6KB资料图片
下载次数
46次资料类型
WORD 文档
浏览次数
809次温湿度试验箱对LED芯片来料检验规范
1. 目的
1.1 制訂LED CHIP FQC檢驗規範。
1.2 訂定成品入庫批允收程序，以確保產品品質達一定水準。
2. 範圍
本公司生產之所有LED產品均屬之。
3. 內容
3.1 檢驗測試項目
3.1.1 光電性檢驗
3.1.2 外觀檢驗
3.2 抽樣計畫（片數定義：晶片片數）
3.2.1 依「產品檢驗抽樣計劃：LED芯片温湿度循环试验箱对LED芯片，LED晶片進行溫濕度，恒溫恒濕，高溫高濕，高低溫循环，溫濕度老化試驗等」(WI-20-0101) 抽片執行檢驗。
3.2.2 光電特性檢驗（VFH、VFL、IV）
（1）抽樣位置：分頁片邊緣4顆，分頁片內圍6顆，均勻取樣。
（2）抽樣數量：每片10顆。
（3）每片抽樣數，每一顆不良，則列一個缺點。
3.2.3 外觀檢驗 LED芯片溫濕度試驗箱
（1）PS TYPE不良晶粒＞2ea／sheet，列入一個缺點。
（2）NS TYPE或PS TYPE分頁面積長距離＜6.5 cm者，不良晶粒＞
5ea／sheet，且＞10 ea／wafer 列入一個缺點。
请输入账号
请输入密码
请输验证码
以上信息由企业自行提供，信息内容的真实性、准确性和合法性由相关企业负责，仪表网对此不承担任何保证责任。
温馨提示：为规避购买风险，建议您在购买产品前务必确认供应商资质及产品质量。
