-测量范围达15mm，可更换F、N或FN探头，供内置或外接探头使用
-FN探头自动识别F（铁磁性）或N（非磁性）基体，操作方便不易出错
SIDSP技术-技术，智能数字化的涂层测厚探头
模拟信号处理时代已成过去，数字信号处理将成为未来的趋势
什么是SIDSP？
SIDSP是由ElektrPhysik（简称EPK）研发的，世界的涂层测厚探头技术。EPK此项技术为涂层测厚领域的创新奠定了新标准。
SIDSP即探头内部数字信号处理，这项技术使探头在测量时，同时在探头内部将信号*处理为数字形式。SIDSP探头*依据世界*技术生产。
SIDSP工作原理？
跟传统技术不同，SIDSP在探头顶部产生和控制激发信号，回传的信号经过32位数字转换和处理，带给您精确的涂层厚度值。此项*的数字处理技术，同时应用在现代通讯技术（手机网络）方面，如数字滤波器，基带转换，平均值，随机分析，等等。此项技术能获得与模拟信号处理*的信号质量和精确度。厚度值通过探头电缆数字化传输到显示装置。
SIDSP探头与普通模拟探头相比，具有决定性的优势，为涂层测厚设定了一个新的标准。标准配置： *配件:
带塑料手提箱，内含： -F1.5/N0.7/FN1.5探头用测量支架
-MINITEST 720（内置探头）
--或MINITEST 730（外置探头）
--或MINITEST740主机（不含探头，有各种探头可选）
-校准套装含校准片和零板
-操作使用说明CD，德语、英语、法语、西班牙语
-2节AA电池
技术数据表
SIDSP探头
探头
特性 | F1.5，N0.7，FN1.5 | F2 | F5，N2.5，FN5 | F15 |
F | N | F | F | N | F |
测量范围 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范围 | 小工件，薄涂层，跟测量支架一起使用 | 粗糙表面 | 标准探头，使用广泛 | 厚涂层 |
测量原理 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 | 磁感应 | 电涡流 | 磁感应 |
信号处理 | 探头内部32位信号处理（SIDSP） |
精确度 | ±（1μm+0.75％读值） | ±（1.5μm+0.75％读值） | ±（5μm+0.75％读值） |
重复性 | ±（0.5μm+0.5％读值） | ±（0.8μm+0.5％读值） | ±（2.5μm+0.5％读值） |
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm |
zui小曲率半径（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm |
zui小曲率半径（凹，外置探头） | 7.5mm | 10mm | 25mm |
zui小曲率半径（凹，内置探头） | 30mm | 30mm | 30mm |
zui小测量面积 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm |
zui小基体厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
连续模式下测量速度 | 每秒20个读数 |
单值模式下zui大测量速度 | 每分钟70个读数 |
主机
型号
特性 | MINITEST 720 | MINITEST 730 | MINITEST 740 |
探头类型 | 内置 | 外置 | 内置外置可换 |
数据记忆组数 | 10 | 10 | 100 |
存储数据量 | zui多10,000个 | zui多10,000个 | zui多100,000个 |
统计值 | 读值个数，zui小值，zui大值，平均值，标准方差，变异系数，组统计值（标准设置/自由配置） |
校准程序符合标准和规范 | ISO，SSPC，瑞典标准，澳大利亚标准 |
校准模式 | 出厂设置校准，零点校准，2点校准，3点校准，使用者可调节补偿值 |
极限值监控 | 声、光报警提示超过极限 |
测量单位 | um，mm，cm；mils，inch，thou |
操作温度 | -10℃-60℃ |
存放温度 | -20℃-70℃ |
数据接口 | IrDA 1.0（红外接口） |
电源 | 2节AA电池 |
标准 | DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840
ASTM B244，B499，D7091，E376
AS 3894.3，SS 1841 60，SSPC-PA 2 |
体积 | 157mm x 75.5mm x 49mm |
重量 | 约175g | 约210g | 约175g（内置）/230g（外置） |
