冷热冲击试验箱温度范围　　内容积(W譎譊)　　-40～150℃　　-55～150℃　　-65～150℃

PCT高压加速老化箱应用范围：　　PCT高压加速老化箱主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之...

一、HAST加速老化试验机 产品用途　　HAST加速老化试验机适用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、磁铁行业、制药线路板,多层线路板、IC、LCD、磁铁...

一、PCT高压加速试验机产品用途：　　PCT高压加速试验机主要是针对于电工、电子产品,以及其元器件,及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适应性试验...

一、PCT高压加速老化机型号:PCT–35　　二、PCT高压加速老化机规格：　　内箱尺寸:300×450mm(φ×D)圆形试验箱　　外箱尺寸:660×950×6...

一、PCT加速老化试验机技术指标：　　1.型号：hast--240　　2.温度范围：RT+10~125℃;控温精度：≤±0.5℃;(饱和蒸气温度)...

一、PCT高压加速老化试验机产品用途：　　PCT高压加速老化试验机主要是针对于电工、电子产品,以及其元器件,及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时的适...

PCT高压加速老化机用途：　　半导体的PCT高压加速老化机:主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好,...

冷热冲击试验箱型号与参数　　型号 工作尺寸 外型尺寸cm　　TS-100 40×50×40 120×165×115　　TS-150 50×60×50 130×1...

冷热冲击试验箱箱体结构：　　箱体采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。　　箱体内胆采用进口不锈钢(SUS304)镜面板，箱体外胆采用...

PCT高压老化箱用途：广泛应用于线路板,多层线路板,,IC,LED,,磁铁之产品密封性能的检测,测试器制品的耐压性。　　PCT高压老化箱技术要求：　　◎型号： ...

冷热冲击试验箱产品规格(mm)　　型号:TS -80 工作室尺寸:H×W×D 400×500×400 外形尺寸: H×W×D 1500×1350×1470　　型...

冷热冲击试验箱温度范围：　　内容积(W×H×D)　　-40～150℃　　-55～150℃　　-65～150℃　　冷热冲击试验箱产品规格(mm)

冲击试验机产品详情：　　一、高低温区温度范围：高温区部分：+80℃至+200℃ 低温区部分：-10℃至-55℃。　　二、温度测试范围：高 温：+60℃至+150...

冷热冲击试验箱特点　　◥冷热冲击试验箱(三箱)的三箱设备区分为：高温区、低温区、测试区三部分，测试产品置于测试区，冲击时高温区或低温区的温度冲入测试区进行冲击,...

冷热冲击试验箱箱体结构　　1、箱体外壁材料：外表面钢板喷塑;　　2、箱体内壁材料：SUS304不锈钢板;　　3、观察窗：高温箱安装矩形多层中空隔热玻璃热玻璃观察...

一、HAST高加速寿命试验箱型号:PCT–35二、HAST高加速寿命试验箱规格：　　内箱尺寸:300×450mm(φ×D)圆形试验箱　　外箱尺寸:660×950...

一、HAST加速老化试验箱技术指标：　　1.型号：hast--240　　2.温度范围：RT+10~125℃;控温精度：≤±0.5℃;(饱和蒸气温度...

一、HAST高压加速寿命测试仪产品用途：　　HAST高压加速寿命测试仪主要是针对于电工、电子产品,以及其元器件,及其它材料在高温、低温的环境下贮存、运输、使用时...

HAST高压加速老化试验箱用途：　　半导体的PCT测试:主要是测试半导体封装之抗湿气能力,待测品被放置严苛的温湿度以及压力环境下测试,如果半导体封装的不好,湿气...