解说PCT加速老化试验箱的技术参数与箱体结构

　PCT加速老化试验箱又名PCT试验箱，是用于测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，多层线路板、光伏组件、EVA、IC、LED、LCD、磁性材料、高分子材料等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。

　　PCT加速老化试验箱的技术参数

　　1.温度范围：室温+10℃～200℃;或室温+10℃～300℃;

　　2.温度波动度：±1℃(空载时);

　　3.升温速率：3～5℃/min;

　　4.试验定时范围：1～9999(s、m、h)可调;

　　5.换气时间：1～99(s、m、h)可调;

　　6.换气量：3～10次/小时、50～100次/小时、100～200次/小时(可调根据客户试验要求);

　　7.换气方法：1、自然换气：通过箱体上下换气孔自然换气;2、强行换气：风机强行进风，通过调节流量计的流量自动换气;

　　8.试样转盘及转速;10r/min两层不锈钢转架;

　　9.循环方式：风扇强制循环方式;10..电源：380V三相五线制;

　　PCT加速老化试验箱的箱体结构

　　1.外壳采用A3钢板数控机床加工成型，内胆为不锈钢板。保温材质采0用高密度玻璃纤维棉，保温层厚度150mm。

　　2.搅拌系统：采用大功率长轴风扇电机，耐高温的不锈钢轴及叶轮，以达到强度对流垂直扩散循环，设备的换气系统为自动控制，换气量可

　　调。

　　3.样品架采用减速电机驱动，可以旋转。

　　艾思荔的服务理念：

　　1、坚持诚信、负责、热情的做人和做企业的基本原则,说到的一定做到;

　　2、走创新技术之路,为客户提供质量过得硬,性价比非常高的产品;

　　3、公司立志“为客户创造更大的生产力"实现与客户共双赢。