IC半导体高低温冲击试验机 传感器高低温冲击试验机 返回列表页

IC半导体高低温冲击试验机用途：  

国防工业、航天工业、自动化零组件、汽车部件、塑胶，化工业，食品业，制药工业及相关产品之耐热、耐寒、耐干性能及研发，品质管理工程之试验规范。  

IC半导体高低温冲击试验机特性： https://www.ybzhan.cn/st45716/list_257926.html 

◎全新欧美之防爆把手，的造型设计、外观质感高水准、进口型多功能、扩展性强之控制器，操作简单、学习容易、控制稳定可靠、可供温湿度及低温双重试验。  

◎宽敞明亮之视窗配高亮度荧光灯，让使用者可随时观测试验箱内的状况。  

◎*的安全保护，确保机器本身及使用者安全。  

◎采用全毛细管，自动负载容量调整系统技术，较以往膨胀阀系统更稳定可靠。温度控制更精确、升降温速度快速、平稳、均匀、为使用者节约宝贵时间。  

◎特殊强制送风循环设计，可避免箱内的气流死角，保证提供优良的温度分布均匀度。  

◎圆弧之内箱结构设计，便于清洗。  

◎采用对臭氧系数为零的绿色环保（HFC）制冷剂R404A，R23。  

◎低噪音设计≦65Db。  

IC半导体高低温冲击试验机性能指标：  

1.产品名称：高低温冲击试验机  

型号：TS-150  

2.IC半导体高低温冲击试验机样品限制：  

本试验设备禁止：  

易燃、爆炸、易挥发性物质试样的试验及储存  

腐蚀性物质试样的试验及储存  

生物试样的试验或储存  

强电磁发射源试样的试验及储存  

IC半导体高低温冲击试验机容积和尺寸：  

1.标称内容积（L）：150L  

2.标称内箱尺寸（mm）：W500×H500×D600  

IC半导体高低温冲击试验机性能：  

1.测试环境条件：  

2.环境温度：5～35℃  

3.相对湿度≤85%RH、循环冷却水温≤30℃  

4.循环冷却水供水压力为0.25～0.4MPa 试验箱内无试样（另有说明除外）  

IC半导体高低温冲击试验机测试方法：  

1.温度范围：-55°C/+150°C  

2.温度波动度：±0.5℃  

3.温度偏差：±2.0℃  

4.高温槽温度范围：60°C/+200°C  

5.低温槽温度范围：-70°C/-10°C  

6.温度变化速率：  

7.升温速率:+60~+200℃≤30分钟（高温槽）  

8.降温速率:-10~-70℃≤90分钟（低温槽）  

9.温度恢复时间小于5分钟  

10.温度转换时间小于10S  

11.除霜时间：150个循环以上  

12.冲击时间：高温（150℃）30min  

13.冲击时间：低温（-55℃）30min  

IC半导体高低温冲击试验机满足试验标准：  

GB/T2423.1-2001试验A：低温试验方法  

GB/T2423.2-2001试验B：高温试验方法  

GB/T2423.22-2002试验N：温度变化试验方法试验Na  

GJB150.3-1986高温试验  

GJB150.4-1986低温试验  

GJB150.5-1986温度冲击试验  

如未特殊说明，以上IC半导体高低温冲击试验机性能指标均为空载情况下测定。