当前位置：北京燕京电子有限公司>>>>光学膜厚测量仪

光学膜厚测量仪

返回列表页

参考价

面议

具体成交价以合同协议为准

产品型号ST2000/ST4000/ST5000/ST6000/ST7000

品牌

厂商性质经销商

所在地

在线询价收藏产品

联系方式：闫查看联系方式

更新时间：2018-05-15 15:56:28浏览次数：620次

联系我时，请告知来自仪表网

产品分类 品牌分类

暂无信息

北京燕京电子有限公司

经营模式：经销商

商铺产品：27条

所在地区：北京

联系人：闫（销售代表）

询价 给他留言

产品简介

本仪器是把UV-Vis光照在测量对象上，利用从测量对象中反射出来的光线测量膜的厚度的产品。这种产品主要用于研究开发或生产导电体薄膜现场，特别在半导体及有关Display工作中作为In-Line monitoring 仪器使用。

详细介绍

1) 因为是利用光的方式，所以是非接触式，非破坏式，不会影响实验样品。

2) 可获得薄膜的厚度和 n,k 数据。

3) 测量迅速正确，且不必为测量而破坏或加工实验样品。

4) 可测量 3层以内的多层膜。

5) 根据用途可自由选择手动型或自动型。

6) 产品款式多样，而且也可以根据顾客的要求设计产品。

7)可测量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 3“ )

8)Table Top型, 适用于大学,研究室等