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PCT老化试验箱zui主要是测试半导体封装之湿气能力，待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试，湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体，常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路，或封装体引
一、结构形式：高低温试验箱整体式结构，即试验箱体、制冷系统、空气调节系统、电器控制柜、制冷机组为一整体，制冷机组位于箱体底部，电器控制部份置于试验箱的侧面，便于操作。二、箱体设计：1、工作室一端的风道
随着我国科学技术迅速的发展，PCT老化试验箱技术正逐步趋于成熟，*的提高了企业的工作效率，也*地推动了PCT老化试验箱技术的发展，在PCT老化试验箱控制技术大范围应用的今天，它的作用正在逐步显现出来，
氙灯耐气候试验箱采用能模拟全阳光光谱的氙弧灯来再现不同环境下存在的破坏性光波，可以为科研、产品开发和质量控制提供相应的环境模拟和加速试验。氙灯耐气候试验箱可用于新材料的选择，改进现有材料或评估材料组成
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